上海斯邁歐分析儀器有限公司
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詳細(xì)摘要： PerkinElmer LS45/55型為多功能、可靠和易用的發(fā)光分光光度計(jì)。
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詳細(xì)摘要： 從氧化鎂鍍層的光學(xué)元件到可單個(gè)配置的濾光片，Thermo Scientific Lumina 熒光分光光度計(jì)能夠?yàn)楦鞣N研究級(jí)熒光應(yīng)用提供高性能和靈高活性。
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詳細(xì)摘要： 與傳統(tǒng)熒光光度計(jì)相比，NanoDrop 3300 將質(zhì)量檢測(cè)限降低一個(gè)以上數(shù)量級(jí)。
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詳細(xì)摘要： 島津RF-6000熒光分光光度計(jì)色散單元：光柵和濾光片，狹縫（光譜通帶）：1.0nm～20nm
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詳細(xì)摘要： RF-5301PC島津熒光分光光度計(jì)實(shí)現(xiàn)高水平的S/N比，達(dá)150以上。較適合高靈敏度、高分辨率測(cè)定。提供豐富的數(shù)據(jù)處理、顯示功能。
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詳細(xì)摘要： 使用簡(jiǎn)單易用且可靠的熒光分光光度計(jì)可滿足您的分析需求，該分析儀可具有的靈敏度、可靠性以及良好的取樣功能。安捷倫 Cary Eclipse 熒光分光光度計(jì)是各種學(xué)...
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詳細(xì)摘要： FT160配置部件，可以提供精細(xì)結(jié)構(gòu)上的超薄鍍層的元素分析。毛細(xì)管聚焦光學(xué)鏡能聚焦直徑小于30μm的X射線束，從而在樣品上集中更大強(qiáng)度且其可測(cè)量的部件尺寸小于傳...
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詳細(xì)摘要： 束XRF涂層厚度和材料分析儀，方便快速進(jìn)行質(zhì)量控制和驗(yàn)證測(cè)試，在幾秒內(nèi)即可獲得準(zhǔn)確的數(shù)據(jù)。基于X-光熒光的涂層厚度和材料分析是業(yè)內(nèi)廣泛接受認(rèn)可的分析方法，提供易...
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詳細(xì)摘要： 微束XRF涂層厚度和材料分析儀，方便快速進(jìn)行質(zhì)量控制和驗(yàn)證測(cè)試，在幾秒內(nèi)即可獲得準(zhǔn)確的數(shù)據(jù)。基于X-光熒光的涂層厚度和材料分析是業(yè)內(nèi)廣泛接受認(rèn)可的分析方法，提供...
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詳細(xì)摘要： Lambda 1050+使用無(wú)格柵PMT 檢測(cè)器和Peltier冷卻PbS檢測(cè)器，在整個(gè)光譜范圍內(nèi)獲得良好的測(cè)試性能，吸光度可到8A。采用四扇區(qū)分光技術(shù)，波長(zhǎng)準(zhǔn)...
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詳細(xì)摘要： 日立偏振塞曼原子吸收分光光度計(jì),創(chuàng)新永無(wú)止境!ZA3700系列是一款新型石墨爐原子吸收分光光度計(jì)，在確保基本性能（例如：高精度和高靈敏度）的前提下，采用其他原子...
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詳細(xì)摘要： Thermo Scientific iCE 3500 原子吸收光譜儀是一種高性能、雙火焰/石墨爐原子化器、雙光束原子吸收光譜儀。
產(chǎn)品型號(hào)：所在地：更新時(shí)間：2023-02-11 在線留言
詳細(xì)摘要： 原裝 zeiss光學(xué)系統(tǒng) ----非球面反射光學(xué)部件
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詳細(xì)摘要： contrAA800原子吸收光譜儀，在儀器精密度和性能方面呈現(xiàn)了對(duì)用戶需求的全新定義
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詳細(xì)摘要： contrAA#174; 600石墨爐原子吸收光譜儀是原子光譜上劃時(shí)代的革命性產(chǎn)品。2004年，德國(guó)耶拿公司投入了十幾年時(shí)間研制出的*臺(tái)商品化儀器問世，這意味著...
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詳細(xì)摘要： 德國(guó)耶拿分析儀器股份公司（Analytik Jena AG） 近年不斷推出一系列新型號(hào)的原子吸收光譜儀和諸多創(chuàng)新的特殊應(yīng)用技術(shù)。
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詳細(xì)摘要： Analytik Jena AG 公司位于世界光學(xué)精密儀器制造中心 ―― 德國(guó)耶拿市, 1846年卡爾蔡司在這里創(chuàng)辦。
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詳細(xì)摘要： Analytik Jena收購(gòu)了原PE公司在德國(guó)的原子吸收制造基地，包括全套的生產(chǎn)線和研發(fā)隊(duì)伍。
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詳細(xì)摘要： ZA3000系列是一款新型原子吸收分光光度計(jì)，在確保基本性能（例如：高精度和高靈敏度）的前提下，采用其他原子吸收分光光度計(jì)無(wú)法實(shí)現(xiàn)的技術(shù)，提升其性能和可靠性。
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詳細(xì)摘要： 240Z AA 石墨爐原子吸收（多 4 個(gè)固定燈位）以敏感的 AC-調(diào)制塞曼技術(shù)為基礎(chǔ)，已證實(shí)其擁有所有塞曼光譜儀中的檢測(cè)限，并且具有高的靈敏度、性能和操作簡(jiǎn)便...
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