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北京眾星聯恒科技有限公司
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新一代高分辨輝光放電質譜儀--GD90 Trace
公司介紹： 英國質譜儀器有限公司（MSI）是一家專業性很強的公司，專門從事高性能磁性行業雙聚焦質譜儀的設計，旨在滿足有機和無機分析市場的需求。 它繼承了Kratos Analytical的技術，該技術是1957年引入商業質譜儀的。從那時起，對高精度，高分辨率儀器的需求呈指數增長。 在MSI，我們通過投資于新的開發和應用，正在將這項技術提升到新的水平方面取得了巨大的進步。 產品介紹： GD90 Trace 具有成熟的光學平臺和*穩定的電子控制系統。 基于高性能MSI AutoConcept的離子光學系統，實現高穩定性、超低檢測限，使GD90 Trace性能優于其他同類儀器。 離子源系統 更耐用的真空自動閥門，可確保50,000+ 樣品的檢測 自動抽氣，無損傷離子源渦輪泵的風險且可防止閥門意外關閉 增加過濾器，進一步降低氣體背景噪聲 可選配干燥氣體通風裝置，更快達到更低的氣體背景噪聲 探測系統 直接離子計數倍增器，減小背景噪聲。電子倍增器和法拉第杯的快速切換，可提供高達1012的線性動態范圍 碰撞過濾器，提升豐度靈敏度 選配第二電子倍增器，備用熱抽拔式離子計數器、短壽命放射性同位素的離子計數器。用于深度剖析的快速分析探測器 電子系統 磁鐵控制器模塊 更少的接線 更簡易的故障診斷 更容易更換 更現代化的DACs和ADCs 增加穩定性 更低的能耗 更多的靈活性 系統可在線更新 GD90 Trace 主要特點 1. 易于清洗的高純鉭放電池及離子源結構 2. 有效的低溫制冷，將氣體背景降至 3. 同時配備了針狀和塊狀樣品池 4. 對輕/重元素無質量偏差 5. 使用180Ta 和 181Ta來快速檢查電子倍增器和法拉第杯，確保響應的一致性 6. 在需要更換其他惰性氣體情況（例如氪），低氣體流速更節省成本 7. 可分析不同形態的合金、高純樣品（導體和非導體） 8. 低濺射速率—常規分析條件下濺射速率從100nm/min（非導體）到150nm/min（導體）；需要更低條件時可讓濺射速率再降低至少5倍。 9. RSFs和檢測限來源于已發表和易溯源的方法 10. 前端裝置可根據用戶需要專門定制手套箱用于核材料的應用 GD90 Trace 作為高分辨雙聚焦輝光放電質譜儀，可在單次掃描實現從主量元素（wt%）到超痕量元素（ppb 到亞 ppb）的全元素分析。GD90 Trace 的離子源和分析器由全不銹鋼構成。 分辨率 連續可調 背景噪聲 ＜0.5cps 分析器真空 <2x10-7 mbar 基體電流 >5 x10-10 amps（Cu 樣品，在分辨率 > 4000 時的總Cu 信號） >1.5 x1 0-11amps (使用RF源，SiO2玻璃樣品） 信號強度穩定性 <3% RSD (Cu 樣品，分辨率>4000，10 分鐘內重復 5 次測量) <5% RSD (Cu 樣品，分辨率>4000，30 分鐘內重復 15 次測量) 譜峰穩定性 <30ppm (Cu 樣品，分辨率>4000， 對 63Cu 進行30分鐘測量） 質量穩定性 <100ppm (12C 到 181Ta) 離子計數效率 ＞70%（相對于法拉第杯） 豐度靈敏度 <200ppb（Cu 樣品，分辨率>4000, 62Cu 相對 63Cu） 內部重復性 主量成份< 3%RSD 次量成份< 5%RSD 痕量成份<10%RSD 外部重復性 主量成份< 5% RSD 次量成份< 10%RSD 痕量成份<20%RSD
優勢：
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