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合肥橋斯儀器設備有限公司
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產品特點：LEPTOSKOP2042涂層測厚儀具有精準的測量技術和簡單的操作方法，是的涂層測厚儀。通過解鎖代碼，可以使儀器在現場迅速的升級。
LEPTOSKOP2042技術參數：
數據傳輸接口RS232 或 USB
電源：電池、充電電池、USB或外接電源
測量范圍: 0 - 20000 um (取決于探頭)
測量速度: 每秒測量2個數值
存儲: 最多 9999 個數值，140個文件
誤差:
涂層厚度 < 100 um: 1% 讀數 +/- 1 um (校準后)
涂層厚度 > 100 um: 1-3% 讀數 +/- 1 um
涂層厚度 > 1000 um: 3-5% 讀數 +/- 10 um
涂層厚度 > 10000 um: 5% 讀數 +/- 100 um
LEPTOSKOP2042涂層測厚儀附件：
試塊和膜片
探頭定位裝置 (適用于微型探頭)
定位輔助裝置 (適用于微型探頭)
電腦軟件 STATWIN 2002 用于數據傳輸和對整個目錄結構的便捷管理
電腦軟件 EasyExport 用于把單獨的讀數或全部文件傳輸到Windows
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