線路板孔銅面銅膜厚儀測厚儀CMI760

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更新時間：2023-01-16 10:17:55瀏覽次數：165次

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產品簡介

線路板孔銅面銅膜厚儀測厚儀CMI760具有非常高的多功能性和可擴展性它集快速**、簡單易用、質量可靠等優(yōu)勢于一體，同時它也是專為測量剛性及柔性、單層、雙層或多層印刷電路板上的電鍍銅測量而設計。臺式專用銅厚測試儀CMI760還具有*的統(tǒng)計功能用于測試數據的整理分析。線路板孔銅面銅膜厚儀測厚儀CMI760

詳細介紹

線路板孔銅面銅膜厚儀測厚儀CMI760

線路板孔銅面銅膜厚儀測厚儀CMI760具有非常高的多功能性和可擴展性它集快速**、簡單易用、質量可靠等優(yōu)勢于一體，同時它也是專為測量剛性及柔性、單層、雙層或多層印刷電路板上的電鍍銅測量而設計。線路板孔銅面銅膜厚儀測厚儀CMI760還具有*的統(tǒng)計功能用于測試數據的整理分析。

線路板孔銅面銅膜厚儀測厚儀CMI760技術參數：

SRP-4面銅探頭測試技術參數：

銅厚測量范圍：
化學銅：10 μin – 500 μin (0.25 μm – 12.7 μm)
電鍍銅：0.1 mil – 6 mil (2.5 μm – 152 μm)
線形銅可測試線寬范圍：8 mil – 250 mil (203 μm – 6350 μm)
準確度：±1% (±0.1 μm)參考標準片
**度：化學銅：標準差0.2 %；電鍍銅：標準差0.5 %
分辨率：0.01 mils ≥ 1 mil, 0.001 mils <1 mil,
0.1 μm ≥ 10 μm, 0.01 μm < 10 μm, 0.001 μm < 1 μm

ETP孔銅探頭測試技術參數：

可測試*小孔直徑：35 mils (899 μm)
測量厚度范圍：0.08 – 4.0 mils (2 – 102 μm)
電渦流原理：遵守ASTM-E376-96標準的相關規(guī)定
準確度：±0.01 mil (0.25 μm) < 1 mil (25 μm)
**度：1.2 mil（30μm）時，達到1.0% （實驗室情況下）
分辨率：0.01 mils (0.1μm)

TRP-M（微孔）探頭測試技術參數：

*小可測試孔直徑范圍：10 – 40 mils (254 – 1016 μm)
孔內銅厚測試范圍：0.5-2.5mils（12.7-63.5μm）
*大可測試板厚：175mil （4445 μm）
*小可測試板厚：板厚的*小值必須比所對應測試線路板的*小孔孔徑值高3mils(76.2μm)
準確度（對比金相檢測法）：±0.01 mil (0.25 μm) < 1 mil (25 μm)
±10%≥1mil(25 μm)
**度：不建議對同一孔進行多次測試
分辨率：0.01 mil(0.1 μm)

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