日立集團
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詳細摘要： 適用于對應(yīng)4、6、8英寸晶圓的測量SEM搭載日立技術(shù)的CD-SEM CS4800兼容4、6、8英寸晶圓的CD測量，提供高解析度的SEM成像，更高的測量精度和快速...
產(chǎn)品型號：所在地：更新時間：2024-07-18 在線留言
詳細摘要： CG6300提供更高的解析度、測量再現(xiàn)性以及高畫質(zhì)高解析度FEB測量裝置（CD-SEM）CG6300通過電子光學系統(tǒng)的全新設(shè)計提高了解析度，并進一步提高了測量可...
產(chǎn)品型號：所在地：更新時間：2024-07-17 在線留言
詳細摘要： 一臺覆蓋了從RoHS/ELV測量篩選到高度分析的X射線熒光分析儀。圖標說明
產(chǎn)品型號：所在地：更新時間：2022-10-16 在線留言
詳細摘要： ～從生物醫(yī)學到材料領(lǐng)域～以創(chuàng)新的操作性，滿足廣泛領(lǐng)域的需求。新一代TEM"RuliTEM"誕生。"RuliTEM"120 kV透射電子顯微鏡系列，包含配備高襯度...
產(chǎn)品型號：所在地：更新時間：2022-10-14 在線留言
詳細摘要： 專用掃描透射顯微鏡HD-2700，配備了與德國CEOS GmbH公司(總經(jīng)理Max Haider先生)共同開發(fā)的球差校正儀，顯著提高了掃描透射電子顯微鏡的性能，...
產(chǎn)品型號：所在地：更新時間：2022-10-14 在線留言
詳細摘要： 原子分辨率300 kV透射電子顯微鏡在精細加工技術(shù)已進入到亞納米級水平的半導體，*材料的研發(fā)領(lǐng)域，原子分辨率電子顯微鏡正在成為日益重要的，的工具。 為了滿足這種...
產(chǎn)品型號：所在地：更新時間：2022-10-14 在線留言
詳細摘要： 日立的冷場發(fā)射電子源和300 kV加速電壓技術(shù)共同打造了超高分辨率成像和高靈敏度分析功能。雙棱鏡全息技術(shù)，空間分辨電子能量損失譜以及高精度平行納米電子束衍射技術(shù)...
產(chǎn)品型號：所在地：更新時間：2022-10-14 在線留言
詳細摘要： 200 kV相差校正TEM/STEM，平衡了空間分辨率和傾斜、分析性能通過單極片實現(xiàn)0.078 nm的STEM空間分辨率和高樣品傾斜度、高立體角EDX。 透射電...
產(chǎn)品型號：所在地：更新時間：2022-10-14 在線留言
詳細摘要： *的SEM更為緊湊 寬幅僅為45 cm的緊湊型的設(shè)計，仍具備4.0 nm的圖像分辨率。全新開發(fā)的用戶界面和電子光學系統(tǒng)讓您深切體驗其高性能。
產(chǎn)品型號：所在地：更新時間：2022-10-14 在線留言
詳細摘要： 集優(yōu)異性能、操作簡便性、多樣化功能于一身日立高新推出的掃描電鏡SU3800/SU3900兼具操作性和擴展性，結(jié)合眾多的自動化功能，可高效發(fā)揮其高性能。SU390...
產(chǎn)品型號：所在地：更新時間：2022-10-14 在線留言
詳細摘要： 現(xiàn)有機型SU8240,SU8230,SU8220及SU8010重新整合，衍生而成Regulus8240、Regulus8230、Regulus8220、Regu...
產(chǎn)品型號：所在地：更新時間：2022-10-14 在線留言您感興趣的產(chǎn)品PRODUCTS YOU ARE INTERESTED IN
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