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超聲波測厚儀

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產品型號KX-150型

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更新時間：2022-11-03 12:07:11瀏覽次數：137次

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滄州科興儀器設備有限公司

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產品簡介

KX-150型超聲波測厚儀采用的高性能、低功耗微處理器技術，基于超聲波測量原理，可以測量金屬及其它多種材料的厚度，并可以對材料的聲速進行測量。可以對生產設備中各種管道和壓力容器進行監測，監測它們在使用過程中受腐蝕后的減薄程度，也可以對各種板材和各種加工零件作精確測量。本儀器可廣泛應用于石油、化工、冶金、造船、航空、航天等各個領域。

詳細介紹

一、KX-150型超聲波測厚儀概述：

KX-150超聲波測厚儀是智能型，采用的高性能、低功耗微處理器技術，基于超聲波測量原理，可以測量金屬及其它多種材料的厚度，并可以對材料的聲速進行測量。可以對生產設備中各種管道和壓力容器進行監測，監測它們在使用過程中受腐蝕后的減薄程度，也可以對各種板材和各種加工零件作精確測量。本儀器可廣泛應用于石油、化工、冶金、造船、航空、航天等各個領域。

二、KX-150型技術參數：

顯示方法：高對比度的段碼液晶顯示，高亮度EL背光；
測量范圍：0.75～300mm（鋼中），公制與英制可選擇；
聲速范圍：1000~9999m/s：
分辨率：0.1mm
示值精度：±（0.5%H+0.04）mmH為被測物實際厚度
測量周期：單點測量時4次/秒、掃描模式10次/秒；
存儲容量：可存儲20組（每組zui多99個測量值）厚度測量數據。
工作電壓：3V（2節AA尺寸堿性電池串聯）
持續工作時間：約100小時（不開背光時）
外形尺寸：150×74×32mm
整機重量：245g

三、KX-150型主要功能：

適合測量金屬(如鋼、鑄鐵、鋁、銅等)、塑料、陶瓷、玻璃、玻璃纖維及其他任何超聲波的良導體的厚度；
可配備多種不同頻率、不同晶片尺寸的雙晶探頭使用；
具有探頭零點校準、兩點校準功能,可對系統誤差進行自動修正；
已知厚度可以反測聲速，以提高測量精度；
具有耦合狀態提示功能；
有EL背光顯示，方便在光線昏暗環境中使用；
有剩余電量指示功能，可實時顯示電池剩余電量；
具有自動休眠、自動關機等節電功能；
小巧、便攜、可靠性高，適用于惡劣的操作環境，抗振動、沖擊和電磁干擾。

四、KX-150型超聲測厚儀儀器配置：
表1儀器配置

	序號	名稱	數量	備注
標準配置	1	主機	1臺
	2	標準探頭（5MHz）	1只
	3	耦合劑	1瓶
	4	ABS儀器箱	1只
	5	隨機資料	1份
	6	電池倉工具	1把
可選配置	8	粗晶探頭（2MHz）
	9	微徑探頭（7.5MHz）
	10	高溫探頭（5MHz）

表2探頭選擇

名稱	型號	頻率 (MHZ)	探頭直徑	測量范圍	zui小管徑	特性描述
粗晶探頭	N02	2	22mm	3.0mm～300.0mm（鋼） 40mm以下(灰鑄鐵HT200)	20	用于鑄鐵等粗晶材質的測量
標準探頭	N05	5	10mm	1.2mm～230.0mm（鋼）	Φ20mm×3.0mm	通用
標準探頭	N05/90°	5	10mm	1.2mm～230.0mm（鋼）	Φ20mm×3.0mm	通用
微徑探頭	N07	7	6mm	0.75mm～80.0mm（鋼）	Φ15mm×2.0mm	用于薄壁及小弧面的測量
高溫探頭	HT5	5	14mm	3～200mm（鋼）	30	用于溫度小于300℃的材料的測量