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鄭州偉創檢測設備有限公司
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技術參數技術指標光學系統自動波長掃描C-T型單色器儀器類型漫反射型適用樣品類型固體顆粒、固體粉末等檢測器日本制冷型PbS檢測器儀器波長范圍1300~2500nm波長準確度±1.5nm波長重復性≤1.0nm波長掃描間隔三檔可選:4nm、8nm、16nm吸光度重復性≤0.002A(在0.4A處)信噪比≥103(在1500nm處)接口類型RS232串口電源220V/50Hz
技術參數 | 技術指標 |
光學系統 | 自動波長掃描C-T型單色器 |
儀器類型 | 漫反射型 |
適用樣品類型 | 固體顆粒、固體粉末等 |
檢測器 | 日本制冷型PbS檢測器 |
儀器波長范圍 | 1300~2500nm |
波長準確度 | ±1.5nm |
波長重復性 | ≤1.0nm |
波長掃描間隔 | 三檔可選:4nm、8nm、16nm |
吸光度重復性 | ≤0.002A(在0.4A處) |
信噪比 | ≥103(在1500nm處) |
接口類型 | RS232串口 |
電源 | 220V/50Hz,110V/60Hz |
尺寸(mm) | 540×370×240 |
重量 | 毛重20kg,凈重18kg |
1、產品質量問題,在產品售出7天內提出異議并且產品未有損壞的,負責無條件免費退換貨;
2、本產品全國聯保,質保期:1年質保;
3、質保期內如有產品質量問題,免費維修;質保期外長期提供技術支持,不收維修費,只酌情收取基本配件費及相關費用;
4、所有產品售后問題,請直接聯系我司,我司售后服務團隊會在30分鐘內響應處理。
技術參數 | 技術指標 |
光學系統 | 自動波長掃描C-T型單色器 |
儀器類型 | 漫反射型 |
適用樣品類型 | 固體顆粒、固體粉末等 |
檢測器 | 日本制冷型PbS檢測器 |
儀器波長范圍 | 1300~2500nm |
波長準確度 | ±1.5nm |
波長重復性 | ≤1.0nm |
波長掃描間隔 | 三檔可選:4nm、8nm、16nm |
吸光度重復性 | ≤0.002A(在0.4A處) |
信噪比 | ≥103(在1500nm處) |
接口類型 | RS232串口 |
電源 | 220V/50Hz,110V/60Hz |
尺寸(mm) | 540×370×240 |
重量 | 毛重20kg,凈重18kg |
1、產品質量問題,在產品售出7天內提出異議并且產品未有損壞的,負責無條件免費退換貨;
2、本產品全國聯保,質保期:1年質保;
3、質保期內如有產品質量問題,免費維修;質保期外長期提供技術支持,不收維修費,只酌情收取基本配件費及相關費用;
4、所有產品售后問題,請直接聯系我司,我司售后服務團隊會在30分鐘內響應處理。
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