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EDX4500HX熒光光譜儀是利用XRF檢測原理實現對各種元素成份進行快速、準確、無損分析
EDX 4500H X熒光光譜儀是利用XRF檢測原理實現對各種元素成份進行快速、準確、無損分析。
該儀器的主要特征是利用智能真空系統,可對Si、P、S、Al、Mg等輕元素具有良好的激發效果,利用XRF技術可對高含量的Cr、Ni、Mo等重點關注的元素進行分析,在冶煉過程控制中起到了測試時間短,大大提高了檢測效率和工作效率的作用。
另外,在合金分析、全元素分析、有害元素檢測應用上也十分廣泛。
范圍廣
1.真空設計
2.測試元素:Na-U
3.帶有8組準直器與5組濾光片自由切換
4.應用面廣
配置高
1.全機采用國外進的進口配件
2.采用數字多道技術,高計數
3.植入公司-信噪比增強器
1.具有三重防輻射功能
2.自動感應
3.加厚防護測試壁
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