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武漢瑞德儀科技有限公司
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同軸 TKD 具有的性能----空間分辨率（低探頭電流要求）
電子顯微鏡分析儀QUANTAX EBSD系統與廣受歡迎的OPTIMUS TKD探頭相結合，是用于分析SEM中納米材料的晶體學解決方案。
一、亮點
1）1.5nm------有效的空間分辨率
的同軸 TKD 提供的樣品-探測器幾何構型，從而實現的性能
2）2nA------測試所需的電流
同軸 TKD 可實現低探頭電流測試，且不影響測試速度和數據質量
3）125,000Pps------超快獲取 FSE、BSE 和 STEM 圖像
的ARGUS成像系統可在幾秒鐘內實現高對比度和低噪聲成像
4）具有的空間分辨率的納米材料取向分布圖
QUANTAX EBSD 系統加上廣受歡迎的 OPTIMUS TKD 探測器，是分析 SEM 中納米材料的解決方案。原因如下：
a）提供 1.5 nm 的空間分辨率
b）在不影響速度和/或數據質量的情況下以低測試電流進行測試
c）在使用浸入式透鏡模式的超高分辨 SEM 下工作的 TKD 解決方案
d）全自動內置 ARGUS 成像系統
二、優勢
同軸 TKD的優勢
a）實現空間分辨率
b）SEM 中獲取取向分布圖和物相分布圖
c）用于快速測試，同時不影響數據質量/完整性
d）以令人難以置信的速度，通過全自動信號優化，以出色的對比度和分辨率拍攝 STEM 圖像
e）可使用低電流分析束流敏感材料。
三、相關圖片
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