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巨為快速溫度變化試驗箱,生產廠家,可定做

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更新時間：2023-06-29 08:09:29瀏覽次數(shù)：171次

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上海巨為儀器設備有限公司

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產品簡介

快速溫度變化試驗箱JW-TH-1000-1010℃/min快速溫度變化試驗箱，15℃/min快速溫度變化試驗箱，20℃/min快速溫度變化試驗箱，30℃/min快速溫度變化試驗箱，60℃/min快速溫度變化試驗箱浙江巨為快速溫度變化試驗箱主要是針對于電工、電子產品，以及其原器件，及其它材料在高溫、低溫的環(huán)境下貯存、運輸、使用時的適應性試驗

詳細介紹

快速溫度變化試驗箱JW-TH-1000-10

10℃/min快速溫度變化試驗箱，15℃/min快速溫度變化試驗箱，20℃/min快速溫度變化試驗箱，30℃/min快速溫度變化試驗箱，60℃/min快速溫度變化試驗箱

浙江巨為快速溫度變化試驗箱主要是針對于電工、電子產品，以及其原器件，及其它材料在高溫、低溫的環(huán)境下貯存、運輸、使用時的適應性試驗。該試驗設備主要用于對產品按照標準要求或用戶自定要求，在低溫、高溫、條件下，對產品的物理以及其他相關特性進行環(huán)境模擬測試，測試后，通過檢測，來判斷產品的性能，是否仍然能夠符合預定要求，以便供產品設計、改進、鑒定及出廠檢驗用。

1. 產品
本公司擁有多位業(yè)界設計工程師，同歐洲技術合作多年的經(jīng)驗，故而產品具有節(jié)能.外型整潔.美觀.性能穩(wěn)定，可靠性高等。企業(yè)的服務具人性化: 其一：距客戶端以200公里范圍內（以4小時車程算）設有制造工廠及技術中心，確保了解售前.售中.售后.服務的快速性及合理性；其二：以零收費.終身制服務模式作為企業(yè)文化，并認真貫徹執(zhí)行；公司產品已在得到廣泛認同，與眾多前500強企業(yè)基本結為良好的合作關系，如 SANYO. SONY. CANON. PHILIPS. OKI. EPSON. PANASONIC. SAMSUNG. SIEMENS. NOKIA. ASUS. DELTA. MBALIB. HITACHI. ENET等；有北京電子部十一所 .北京科研院.北京空三所北京電子部十二所.航天部239廠.郵電部機檢測中心（北京）.航天技術進出口公司.中科院廣州能源研究所.石家莊電子十三所 .天津712廠.廠. 人民6916廠（河北） .武漢凡谷電子技術研究所.鄭州郵電部設計院等。
2. 試樣說明
本試驗設備禁止：易燃、爆炸、易揮發(fā)性物質試樣的試驗及儲存腐蝕性物質試樣的試驗及儲存生物試樣的試驗或儲存強電磁發(fā)射源試樣的試驗及儲存
3. 容積和尺寸
標稱內容積內箱尺寸外型尺寸		1000L W 1000×H 1000×D 1000 mm W 1620×H 2050×D 1770 mm
4. 性能
4.1. 測試環(huán)境條件 4.2. 測試方法	設備四周氣流暢通，無高濃度粉塵，無腐蝕性或易燃易爆性氣體環(huán)境溫度為5～35℃ 相對濕度≤85%RH 循環(huán)冷卻水溫≤30℃ 循環(huán)冷卻水供水壓力為0.25～0.4MPa（風冷設備無此要求）溫度變化速率符合相關標準
4.2.1溫度范圍	-70℃～+180℃
4.2.2溫度波動度	≤ ±0.5℃ 空載條件下，設備在穩(wěn)定狀態(tài)下，工作空間中心點溫度隨時間的變化量，實測zui高溫度與zui低溫度之差的一半，以“±”表示，即溫度波動度℃。
4.2.3溫度均勻度	≤ 2℃ 空載條件下，設備達到穩(wěn)定后，每次測試中實測zui高溫度與zui低溫度之差的算術平均值，即溫度均勻度。
4.2.4溫度偏差	≤ ±2.0℃ 空載條件下，設備中心點在規(guī)定時間內測量的平均值與設備顯示溫度平均值之差，即溫度偏差。
4.2.5溫度變化速率	升溫速率: -40℃ ~ +85℃ ≤6.25 min 升溫平均：20℃/min 降溫速率: +85℃ ~ -40℃ ≤6.25 min 降溫平均：20℃/min
4.2.6濕度范圍	濕度范圍：30～90%RH （+25℃~+85℃）
4.2.7相對濕度偏差	±2.5% R.H （≤75%R.H時濕度偏差：±5% R.H）

參考型號

型號	JW-TH-80-60	JW-TH-150-30	JW-T-225-20	JW-TH-408-15	JW-TH-1000-10
容積(L)	80	150	225	408	1000
內尺寸cm(WHD)	40×50×40	50×60×50	50×75×60	100×100×800	100×100×100
溫度范圍	-70℃～+150℃