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偏光熔點儀 XPN-100E

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產品簡介

偏光熔點儀XPN-100E一、用途XPN-100E/XPN-100Z型偏光顯微鏡是利用光的偏振特性對具有雙折射性物質進行研究鑒定的儀器

詳細介紹

偏光熔點儀 XPN-100E

一、用途 XPN-100E/XPN-100Z 型偏光顯微鏡是利用光的偏振特性對具有雙折射性物質進行研究鑒定的儀器。偏光顯微鏡在醫學上有廣泛的用途，如觀察齒、骨、頭發及活細胞等的結晶內含物，神經纖維、動物肌肉、植物纖維等的結構細節，分析病變過程，偏光顯微鏡也可以觀察無機化學中各種鹽類的結晶狀況。偏光熔點儀系統可供廣大用戶通過偏光來觀察物體在加熱狀態下的形變、色變及物體的三態轉化。
	電腦型偏光熔點儀 XPN-100E	數碼偏光熔點儀 XPN-100Z
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二、系統簡介
偏光熔點儀系統是將精密的光學顯微鏡技術、的光電轉換技術、的計算機圖像處理技術地結合在一起而開發研制成功的一項高科技產品。可以在顯示屏上很方便地觀察實時動態圖像，并能將所需要的圖片進行編輯、保存和打印。

三、技術參數：

1.目鏡：

類別	放大倍數	視場（mm）
目鏡	6X	φ22
	10X	φ18
	15X	φ11

2.物鏡：

類別	放大倍數	數值孔徑（NA）	工作距離（mm）
物鏡	5X	0.10	17.5
	10X	0.25	6.6
	45X	0.65	0.64

3.放大倍數：30X-675X
4.系統放大倍數：30X-2000X
5.偏光系統：可旋轉式起偏振片和觀察頭內置檢偏振片
6.聚光鏡數值孔徑：NA=1.25
7.載物臺：360°旋轉式載物臺尺寸：Ф120mm
8.調焦系統：帶限位和調節松緊裝置的同軸粗微動，微動格值為 0.002mm
9.眼瞳調節范圍：53mm-75mm
10.照明光源：6V/20W 鹵素燈，亮度可調
11.防霉：的防霉系統

四、偏光熱臺

透射偏光顯微熔點測定儀是地質、礦產、冶金、石油等部門和相關高校的高分子……等專業的專業實驗儀器。可供廣大用戶通過偏光來觀察物體在加熱狀態下的形變、色變及物體的三態轉化，該儀器具有自動控制溫度及無級調節熱臺升溫速度的功能，通過LED顯示溫度測量值。儀表顯示準確、清晰、穩定性好；控溫范圍寬，可靠性好，抗震性強。是新一代的熔點測定儀器。
主要技術參數：
平臺 Ф120mm 360°旋轉
測溫范圍室溫-300℃
測量精度 ±1℃
測試量 ≯0.1mg
顯示方式四位LED數碼管
傳感器分度號PT-100
電源 AC220V 50Hz
使用環境溫度0-40℃濕度 < 85%

五、系統組成

電腦型偏光熔點儀（XPN-100E）： 1、偏光顯微鏡 2、熱臺 3、攝像器(CCD) 4、A/D(圖像采集) 5、計算機
數碼相機型偏光熔點儀（XPN-100Z）： 1、偏光顯微鏡 2、熱臺 3、數碼相機

數碼顯微成像系統