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上海倍藍光電科技有限公司
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GL Spectis 8.0是一款的集成光譜輻射儀，具有高靈敏度的背面減薄，冷卻的Hamamatsu CCD圖像傳感器和革命性的減少光學雜散光*方法，使光譜光的測量達到了更高水平。
GL SPECTIS 8.0光譜儀
GL Spectis 8.0是一款的集成光譜輻射儀，具有高靈敏度的背面減薄，冷卻的Hamamatsu CCD圖像傳感器和革命性的減少光學雜散光*方法，使光譜光的測量達到了更高水平。Spectis 8.0是市場上少有使用革命性的OSR方法/光學雜散光減少* /的產品，可確保測試結果的高精度。
每個光譜輻射儀都經過單獨校準，并且在JD光譜校準過程之前，執行三個預校準階段：（1）波長校準，（2）非線性校正和（3）光學雜散光抑制*
這種的光評估系統使用二氧化硅透射光柵，可提供高分辨率，更高的通量和系統靈敏度。此外，傳感器的冷卻允許設置更長的積分時間以支持低信號電平測量?？茖W和實驗室應用的WM解決方案。
LED，熒光燈或LCD顯示器等不同的光源需要不同的光學探頭。 GL SPECTIS 8.0可以與其他設備結合使用，以測量所有類型的光源，顯示器以及LED燈?？梢允褂闷渌O備來滿足各種測量要求。
系統功能
GL SPECTIS 8.0光譜輻射儀的光學系統使用光譜學中可用的技術解決方案。鏡/光柵/鏡光譜儀平臺使用二氧化硅透射光柵和背面薄型CCD圖像傳感器。傳感器和電子設備具有熱穩定性，并且軟件會不斷監控基線水平。
透射光柵提供了Z高的透射性能和高擴散效率。這些特性允許設置非常短的積分時間，這對于高精度光源測量非常重要，并且在超快速生產過程控制應用中可能是至關重要的因素。
背面薄型CCD Hamamatsu傳感器在寬光譜范圍內提供非常高的量子效率。這有助于在UV，VIS和NIR范圍內實現更準確和低噪聲的光測量。該平臺的高光學分辨率使其成為工業應用中窄帶光源測量和快速光測量的理想工具。
在交付之前，將JD光譜校準集成到每個光譜儀中，從而能夠精確測量不同的JD值（例如勒克斯，坎德拉或流明）以及輻射度值，具體取決于安裝的測量附件。
GL Spectis 8.0光譜儀可以在不同條件下提供非常精確的測量。電子板上安裝的溫度傳感器監視溫度變化，并自動補償暗電流水平的任何變化，從而提供出色的測量穩定性。
系統規格參數
| 光譜范圍* | 250 – 1050 nm |
| 傳感器 | 背面薄型CCD圖像傳感器，帶冷卻（5°C） |
| 像素數 | 2048 |
| 光學分辨率/ FWHM | 2.0 nm |
| 波長重現性 | ±0.2nm |
| 積分時間 | 10ms~10s |
| A / D轉換 | 16bits |
| 信噪比 | 2000：1 |
| 雜散光 | 2*10E-4 |
| 光譜輻射精度** | ±2% |
| 色坐標的測量不確定度（x.y）** | ±0.001 |
| PC接口 | USB 2.0 |
| 數據格式 | XML |
| 外部電源適配器 | 輸入：AC 100…240 V（50/60 Hz）1.5 A輸出：DC 12V 5A |
| 工作溫度 | 5-35°C |
| 尺寸 [H x W x D] | 270 mm x 180 mm x 325 mm |
| 重量 | 4800 kg |
傳感器的光譜范圍。由于使用的光學附件的限制，可能會降低系統的實際光譜范圍。
校準后立即出現測量不確定度。擴展后的不確定性對應于95％的覆蓋概率，覆蓋因子k = 2。
該參數在實驗室條件25°C，相對濕度45％下有效
注意：儀器，固件和軟件規格如有更改，恕不另行通知。 GL OPTIC數據表中包含的所有信息以及任何形式的產品信息均經過精心準備，并包括真實的信息。請注意，由于文本和/或其他錯誤或可用技術的更改，可能會出現差異。建議在使用產品之前聯系我們，以獲取的產品規格。
適用于：
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