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紫外可見分光光度計757

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更新時間：2023-07-20 10:30:16瀏覽次數：96次

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上海恒勤儀器設備有限公司

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產品簡介

紫外可見分光光度計757 波長范圍：200nm～1000nm光譜帶寬：2nm雜散光：≤0.3%（T）（在220nm處和360nm處，以NaNO2測定）

詳細介紹

紫外可見分光光度計757 主機功能：

采用微機測量系統，T-A轉換精確，自動調整0%（T）和調整99%（T），具有GOTOλ，自動8聯樣品架，自動扣除比色皿誤差，濃度多點標定，斜率和截距設置等功能，具有RS232接口和并行打印口（打印機，另行選配）。

紫外可見分光光度計757 聯機功能：

通過RS232串行接口，可利用上層軟件作全波長掃描，時間掃描，濃度回歸方程（1次、2次、3次），多波長測試，并大大擴展測試功能（除主機功能外）。

技術指標：

波長范圍：200nm～1000nm
光源：鎢鹵素燈12V20W（進口） DD2.5氘燈（進口）
接收元件：光電池
波長大允許誤差：±0.5nm
波長重復性：≤0.2nm
光譜帶寬：2nm
雜散光：≤0.3%（T）（在220nm處和360nm處，以NaNO2測定）
透射比測量范圍：0.0%（T）～200.0% (T）
吸光度測量范圍：-0.301（A）～4.000(A)
透射比大允許誤差：±0.5%（T）
透射比重復性：≤0.2%（T）
噪聲：99%噪聲≤0.5%（T） 0%噪聲≤0.2%(T)
穩定性：≤0.004A/30min