PLC 工控機(jī) 嵌入式系統(tǒng) 人機(jī)界面 工業(yè)以太網(wǎng) 現(xiàn)場(chǎng)總線 變頻器 機(jī)器視覺(jué) DCS PAC/PLMC SCADA 工業(yè)軟件 ICS信息安全 應(yīng)用方案 無(wú)線通訊
深圳子柒科技有限公司
閱讀:103發(fā)布時(shí)間:2022-12-27
子柒電漿清洗機(jī)氫去除SiC表面污染物C和O:
SiC該材料是三代半導(dǎo)體材質(zhì),具有高臨界擊穿電場(chǎng)、高導(dǎo)熱性、高載流子飽和漂移速度等特點(diǎn)。它是半導(dǎo)體功率器件的前沿方向,在高壓、高溫、高頻、抗輻射半導(dǎo)體器件低損耗的優(yōu)良性能,是半導(dǎo)體功率器件的前沿。
但經(jīng)傳統(tǒng)濕法處理后的SiC表面存在著殘留有C雜質(zhì)和表面容易被氧化等缺點(diǎn),使得在SiC上不容易形成優(yōu)良的歐姆接觸和低界面態(tài)的MOS結(jié)構(gòu),這嚴(yán)重影響了功率器件的性能。子柒電漿清洗機(jī)增強(qiáng)金屬有機(jī)物,化學(xué)氣相沉積系統(tǒng)可以在低溫下產(chǎn)生低能離子和高電離度高濃度高活化高純氫等離子體,使得在低溫下除去C或OH-等雜質(zhì)離成為了可能。
由濕法清洗后和子柒電漿清洗機(jī)處理后的RHEED圖像,我們發(fā)現(xiàn)濕法處理SiC表面呈點(diǎn)伏狀,這表明經(jīng)濕法處理的SiC表面不平整,有局部的突出。而經(jīng)過(guò)電漿清洗機(jī)處理后的RHEED圖像成條紋狀,這表明表面非常平整。經(jīng)傳統(tǒng)濕法處理的SiC表面存在的主要污染物為碳和氧。這些污染物在低溫條件下就可以與H原子發(fā)生反應(yīng),以CH、和H2O的形式從表面去除掉。經(jīng)過(guò)處理后表面的氧的含量比傳統(tǒng)濕法清洗的表面氧含量顯著降低。
我們知道表面存在雜質(zhì)C是制造半導(dǎo)體MOS器件或者歐姆接觸的一大障礙,如果經(jīng)plasma清洗機(jī)等離子體處理后Cls的高能尾巴消失,即CC-H污染消失,就會(huì)更容易制備高性能的歐姆接觸和MOS器件。經(jīng)等離子體處理后CIs的高能端尾巴消失,同時(shí)我們發(fā)現(xiàn)未經(jīng)等離子體處理的SiC表面Cls峰相對(duì)與等離子體后的Cls遷移了0.4ev,這是由于表面存在C/C-H化合物造成的。
未經(jīng)過(guò)電漿清洗機(jī)處理的Si-C/Si-O譜峰強(qiáng)度之比(面積之比)為0.87。經(jīng)過(guò)處理的Si-C/Si-O的XPS譜峰強(qiáng)度之比(面積之比)為0.21,與沒(méi)有經(jīng)等離子體處理的相比下降了75%。經(jīng)過(guò)濕法處理的表面Si-O的含量明顯高于經(jīng)過(guò)等離子體處理的表面。高能電子衍射(RHEED分析發(fā)現(xiàn)等離子處理后的SiC表面比傳統(tǒng)濕法處理的SiC表面更加平整,而且處理后表面出現(xiàn)了(1x1)結(jié)構(gòu)。
電漿清洗機(jī)氫處理可以有效除去表面的碳污染,暴露在空氣中30分鐘后,發(fā)現(xiàn)經(jīng)電漿清洗機(jī)處理的SiC表面氧的含量能明顯低于傳統(tǒng)濕法清洗的表面,經(jīng)等離子處理的表面抗氧化能力顯著提高,這就為制造歐姆接觸和低界面態(tài)的MOS器件打下了良好的基礎(chǔ)。
商鋪:http://www.xashilian.com/st267456/
主營(yíng)產(chǎn)品:等離子清洗機(jī),自動(dòng)點(diǎn)膠機(jī),自動(dòng)鎖螺絲機(jī),自動(dòng)灌膠機(jī),自動(dòng)焊錫機(jī),AGV智能小車
智能制造網(wǎng) 設(shè)計(jì)制作,未經(jīng)允許翻錄必究 .? ? ?
請(qǐng)輸入賬號(hào)
請(qǐng)輸入密碼
請(qǐng)輸驗(yàn)證碼
請(qǐng)輸入你感興趣的產(chǎn)品
請(qǐng)簡(jiǎn)單描述您的需求
請(qǐng)選擇省份