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河南泰柯特斯科技發展有限公司
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簡單介紹 CT200N氧化膜測厚儀（CT200拓展型）增強了數據統計功能，數據存儲采用回環覆蓋方式，避免了新用戶使用時出現存儲器滿的異常。采用了磁性(CT200F)和渦流(CT200N)兩種測厚方法，CT200F可測量磁性金屬基體上非磁性覆蓋層的厚度,CT200N氧化膜測厚儀（CT200拓展型）可測量非磁性金屬基體上非導電覆蓋層......
CT200N氧化膜測厚儀（CT200拓展型）
CT200N氧化膜測厚儀（CT200拓展型） 產品概述：
CT200升級版在開發過程中，增強了數據統計功能，數據存儲采用回環覆蓋方式，避免了新用戶使用時出現存儲器滿的異常。采用了磁性(CT200F)和渦流(CT200N)兩種測厚方法，即可測量磁性金屬基體上非磁性覆蓋層的厚度又可測量非磁性金屬基體上非導電覆蓋層的厚度
CT200N氧化膜測厚儀（CT200拓展型） 功能特點●更加方便的數據統計、增加存儲量
●任意界面測量
●新穎的界面布局
●簡潔、經濟、實用
●增加了渦流功能測厚，實現一機兩用
●設有五個統計量：平均值（MEAN）、*大值（MAX）、*小值(MIN)、測試次數（NO.）
標準偏差（S.DEV）
●具有存貯功能：可存貯500個測量值
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CT200N氧化膜測厚儀（CT200拓展型）技術參數：
| 測頭類型 | CT200F | CT200N | |
| 工作原理 | 磁感應 | 電渦流 | |
| 測量范圍 | 0~1250μm | 0~1250μm，其中：銅上鍍鉻（0~40μm） | |
| 分辨力 | 0.1μm（0~50μm），1微米（＞50μm） | ||
| 測量誤差 | 3%H＋1μm（H為測量范圍） | ||
| 示值誤差 | 一點校準（μm） | ±（3%H+1） | ±（3%H+1） |
| 測試條件 | *小曲率半徑（μm） | 凸1.5 | 凸3 |
| *小面積的直徑（μm） | Φ7 | Φ5 | |
| 基體臨界厚度（㎜） | 0.5 | 0.3 | |
| 工作電壓 | 3*1.5V | ||
| 外形尺寸 | 155㎜*68㎜*27㎜ | ||
| 整機重量 | 230g | ||
| 標準配置 | 主機、探頭（F或N）、基體（鐵或鋁）、標準片 | ||
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CT200N氧化膜測厚儀（CT200拓展型）標準配置：
主機、探頭（F或N）、基體（鐵或鋁）、標準片、電池、隨機文件、儀器箱
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