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QNix4200/4500 涂層測厚儀 QNix4200/4500（qnix4200/4500 ）

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更新時間：2023-07-02 08:37:05瀏覽次數：132次

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產品簡介

簡單介紹 QNix4200/4500 涂層測厚儀采用一體化設計，只需調零，無需校準，使用極其簡單。 QNix4200為磁性測厚儀，可以用來測量鋼、鐵等磁性基體上的涂鍍層；QNix4500為磁性和渦流兩用測厚儀，不僅可以用來測量鋼鐵等磁性基體，還可以用來測量鋁、銅、不銹鋼等非磁性金屬表面的涂層、氧化膜、磷化膜等。 QNix420......

詳細介紹

QNix4200/4500 涂層測厚儀
QNix4200/4500 涂層測厚儀性能特點：

QNix4200和QNix4500采用一體化設計，只需調零，無需校準，使用極其簡單。其中QNix4200為磁性測厚儀，可以用來測量鋼、鐵等磁性基體上的涂層、鍍層；QNix4500為磁性和渦流兩用測厚儀，不僅可以用來測量鋼鐵等磁性基體，還可以用來測量鋁、銅、不銹鋼等非磁性金屬表面的涂層、氧化膜、磷化膜等覆層。操作簡單，攜帶方便，精度高，為廣大用戶所喜愛。產品優點：只需調零，無需校準
體積小巧，操作方便，自動識別基體，精度高，價格便宜

QNix4200/4500 涂層測厚儀探頭：

探頭形式

一體式

可選探頭

Fe鐵基探頭：0-3000μm

NFe非鐵基探頭: 0-2000μm

QNix4200/4500 涂層測厚儀技術參數：

測量范圍：Fe鐵基探頭：0-3000μm NFe非鐵基探頭: 0-2000μm顯示精度：0.1um 重量：110g

精度：0-50um:≤±1um；50-1000um:≤±1.5%讀數；1000-3000um≤±3%讀數

下限小接觸面：10×10mm/QNix4500

下限小曲率半徑：凸面：3mm；凹面：25mm

下限小基體厚度：Fe:0.2mm/NFe:0.05mm