此外，該探測(cè)器是以與同軸探測(cè)器相同的寬高比生產(chǎn)的、允許為標(biāo)準(zhǔn)的實(shí)驗(yàn)室測(cè)量幾何條件提供的效率性能，例如馬林燒杯或其它較大的樣品容器。其結(jié)果是使之成為一個(gè)靈活的探測(cè)器，能夠通過改善小可探測(cè)濃度/活度(MDC/MDA)、為在井內(nèi)計(jì)數(shù)廣泛范圍的樣品尺寸以及測(cè)量幾何、提供比在頂帽上或在馬林燒杯內(nèi)更短的計(jì)數(shù)時(shí)間。井內(nèi)部的薄鋰 (近似于 50 μm) 擴(kuò)散接觸面與探測(cè)器頂帽中的薄壁鋁插入物(邊上 0.5 mm、底部1 mm 厚) 相結(jié)合提供的低能響應(yīng)范圍、允許把譜學(xué)應(yīng)用范圍下推到 20 keV。探測(cè)器外表面上的接觸面近似于 0.5 mm 厚，這類似于在標(biāo)準(zhǔn)電極Ge (SEGe) 同軸探測(cè)器上使用的厚度。因此，對(duì)井外部源，有用的能量范圍限于40 keV 及以上。
型號(hào)和規(guī)格：
SAGe Well 以6個(gè)不同的型號(hào)提供使用，差別在于它們的活性體積(見下面的表)。有5個(gè)型號(hào)擁有16 mm直徑井，一個(gè)型號(hào)擁有更大的28 mm 直徑井。所有型號(hào)有一個(gè)40 mm 的可用井深度。小陽(yáng)極幾何的一個(gè)突出優(yōu)點(diǎn)是分辨率性能獨(dú)立于探測(cè)器的尺寸、即井直徑。
SAGe Well 探測(cè)器以一個(gè)固定的尺寸交貨，每個(gè)型號(hào)的長(zhǎng)寬比（直徑/長(zhǎng)度) 專門選擇成在井的邊上和底部有相等的厚度和活性材料。這優(yōu)化了測(cè)量井內(nèi)樣品的探測(cè)效率。如下圖所示，更大活性體積的優(yōu)點(diǎn)對(duì)于增加gamma射線的能量變得越來越明顯。雖然GSW275L 和GSW300 兩種型號(hào)的外直徑是相似的是，GSW275L 的效率較低，因?yàn)槿サ袅溯^多的活性Ge 材料、來制造較大的井。但是， 28 mm 井能夠裝入3倍于16 mm 型號(hào)的樣品材料。因此，按質(zhì)量計(jì)算的效率(樣品質(zhì)量* 效率) 實(shí)際上更高，使得它在提供較大樣品體積應(yīng)用使用時(shí)具有較低的探測(cè)限和較快的計(jì)數(shù)時(shí)間。所有 SAGe Well 探測(cè)器型號(hào)都裝備一個(gè)AC-耦合電阻反饋前置放大器。
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