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半導體器件測試儀器儀表: 功率器件高壓電源電化學循環伏安測試儀晶體管測試儀太陽能電池測試 CV測試系統數字源表應用方案電流源半導體參數測試儀分立器件測試系統高壓程控電源采集卡脈沖恒壓源脈沖恒流源數字源表

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SMU數字源表搭建晶圓級微電子材料器件測試系統2024/12/24: 在半導體材料和器件的研究中，電性能測試是不可少的環節。隨著半導體技術的提升，微電子工藝逐漸復雜，如何對微電子材料器件進行高效率測試成為業內關注的重點。普賽斯儀表陸續推出多型號國產化數字源表SMU，為進...

SiC GaN三代半功率器件測試挑戰及應對測試方案2024/11/20: 功率半導體應用現狀隨著新能源汽車800V高壓快充技術的興起，SiC憑借其高熱導率、高擊穿場強、高飽和電子漂移速率以及高鍵合能等一系列顯著優勢，成為功率半導體產業競相追逐的“風口”。在實際應用中，搭載碳...

smu數字源表與探針臺連接示意圖及注意事項有哪些？2024/10/30: 1、前言在半導體和集成電路工藝中，材料、晶圓、芯片的測試是不可少的環節。隨著半導體測試技術的發展，數字源表SMU結合探針臺的系統組合已經被廣泛應用于材料/微小器件的電學特性驗證中。數字源表SMU具備源...

脈沖電流源測試旁路二極管熱性能方案2024/9/13: 熱斑效應：太陽能電池一般是由多塊電池組件串聯或并聯起來。串聯支路中可能由于電池片內部缺陷或者外部遮擋，將被當作負載消耗其他有光照的太陽電池組件所產生的能量。被遮蔽的太陽電池組件此時會嚴重發熱而受損。旁...

SiC/IGBT功率半導體器件應用發展及其測試解決方案2024/8/23: SiC/IGBT功率器件應用發展IGBT(絕緣柵雙極型晶體管)是電力控制和電力轉換的核心器件,是由BJT(雙極型晶體管)和MOS(絕緣柵型場效應管)組成的復合全控型電壓驅動式功率半導體器件,具有高輸入...

納米材料高溫原位表征及測試方案2024/8/15: 納米材料高溫原位表征及測試方案通過MEMS芯片在原位樣品臺內對樣品構建精細熱場自動調通過MEMS芯片在原位樣品臺內對樣品構建精細熱場自動調控及反饋測量系統，并結合TEM/SEM研究材料在不同熱場條件下...

基于數字源表的柔性材料形變測試方案2024/7/25: 柔性材料使用過程中形態的反復變化將影響材料的電學性能及壽命。形變測試是柔性材料性能表征的重要手段。測試面臨的挑戰依賴手動測試，缺乏標準化的測試系統缺少軟件,難以實時監測I-V的變化曲線普賽斯提供標準化...

數字源表測試導電水凝膠方案2024/7/22: 導電水凝膠將親水性基質和導電介質有機結合起來,是一類兼具良好的可加工性、較高柔韌性和優異電化學性能的新型復合水凝膠，是未來柔性電子器件的理想材料。水凝膠電導率測試常用四探針法進行測試，優勢在于分離電流...

SMU源表搭建半導體霍爾效應測試實驗平臺2024/5/29: 本科生微電子器件及材料實驗目的通過實驗動手操作，加深對半導體物理理論知識的理解，掌握半導體材料和不同器件性能的表征方法及基本實驗技能，培養分析問題和解決問題的能力。本科生微電子器件及材料實驗目錄實驗一...

如何用源表測試IC芯片電性能2024/5/13: 芯片測試作為芯片設計、生產、封裝、測試流程中的重要步驟，是使用特定儀器，通過對待測器件DUT(DeviceUnderTest)的檢測，區別缺陷、驗證器件是否符合設計目標、分離器件好壞的過程。其中直流參...

功率半導體測試挑戰及應對方案詳解2024/5/10: 功率半導體是電子產業鏈中最核心的一類器件，能夠實現電能轉換和電路控制作用。功率半導體包括功率半導體分立器件(含模塊)以及功率IC等。其中，功率半導體分立器件按照器件結構可分為二極管、晶閘管和晶體管等。...

如何用數字源表簡化apd的暗電流測試2024/3/15: 01APD工作原理APD雪崩光電二極管的工作原理是基于光電效應和雪崩效應，當光子被吸收時，會產生電子空穴對，空穴向P區移動，電子向N區移動，由于電場的作用，電子與空穴相遇時會產生二次電子，形成雪崩效應...

數字源表iv掃描測試納米材料電性能2024/3/8: 01/納米材料電學性能的表征和分析/與傳統的材料相比，納米材料具有原子級厚度、表面平整無懸空鍵、載流子遷移率好等優點，其導電性能很大程度依賴于材料本身的帶隙、摻雜濃度和載流子遷移率。同樣的摻雜濃度下，...

基于SMU數字源表的鈣鈦礦電池性能測試方案2024/1/24: 1前言“碳達峰、碳中和”背景下，發展新能源成為降低碳排放的第一驅動力。以太陽能為代表的清潔能源在市場上的占比大幅提升，與之對應的太陽能電池同樣發展迅速。太陽能電池是一種吸收光能產生電能的半導體光電二極...

半導體電學特性測試系統—CV+IV測試儀2023/12/8: 半導體電學特性測試系統—CV+IV測試儀概述：SPA-6100半導體參數分析儀是武漢普賽斯自主研發、精益打造的一款半導體電學特性測試系統，具有高精度、寬測量范圍、快速靈活、兼容性強等優勢。產品可以同時...

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