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上海容好儀器設備有限公司
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顏色：灰色品牌：日立手持式XRF合金分析儀X-MET8000將日立分析儀器的高性能X光管和大面積硅漂移探測器（SDD）耦合在一起，其速度和性能幾乎可滿足市場上所有的金屬分析應用需求
| 顏色： | 灰色 | 品牌： | 日立 |
手持式XRF合金分析儀X-MET8000將日立分析儀器的高性能X光管和大面積硅漂移探測器（SDD）耦合在一起，其速度和性能幾乎可滿足市場上所有的金屬分析應用需求。
X-MET8000 S手持式合金分析儀是廢舊金屬回收，材料可靠性鑒定（PMI），制造行業中QA/QC，鍍層分析，貴金屬及珠寶分析的理想工具。
性能優勢
?簡單的“對準即測"操作，使用方便?直觀的大圖標式用戶界面：操作員幾乎不需任何培訓?大面積4.3英寸彩色觸摸屏，即便在陽光直射下也能清晰地看到檢驗結果，戴上手套也不受影響?符合IP54等級（相當于NEMA3）防護標準，具有防塵與防水性能，能夠適應惡劣的工作環境。?外殼、屏幕、及電池周圍均采用環保密封和減震橡膠，耐沖擊設計。?可快速更換防護窗口膜：無需任何工具即可快速更換已損壞或玷污的窗口膜?可按客戶要求定制檢驗結果模式，以便于快速作出判斷：即顯示您所需重要信息，例如牌號、元素成分、合格/不合格通知，以及元素的顯示順序，以便于快速決策。?人體工程學時尚精巧的設計，重量輕（含電池僅1.5千克），體積小。?長時間使用：電池具有8-10小時的續航能力?預裝齊全牌號庫（美標AISI、德標DIN、日標JIS和 國標GB牌號庫，共合1600多合金），用戶也可新增加牌號庫。 技術參數
X-MET8000 S | |
說明 | 對常用合金進行快速分揀的明智之選 |
X光管 | 50千伏（用40千伏） |
X光管過濾器 | 單個過濾器 |
探測器 | 大面積硅漂移探測器 |
元素范圍 | 鈦- 鈾 |
IP54等級 | 鈦（Ti），釩（V），鉻（Cr），錳（Mn），鐵（Fe），鈷（Co），鎳（Ni），銅（Cu），鋅（Zn），（As），硒（Se），釔（Y），鋯（Zr），鈮（Nb），鉬（Mo），鈀（Pd），銀（Ag）鎘（Cd），銦（In），錫（Sn），銻（Sb），鉿（Hf），鉭（Ta），鎢（W），錸（Re），銥（Ir），鉑（Pt），金（Au），鉛（Pb），鉍（Bi）。 |
保護探測器窗口不受損壞 | 是 |
校準 | 防軋膜窗口膜 |
藍牙 | 無標樣FP基本參數分析法 |
WiFi | 包含 |
集成頭 | 包含 |
報告 | 可選件 |
應用領域
一、金屬回收
X-MET8000 S是用于廢金屬回收分析的理想分析儀。手持式X 射線熒光光譜
儀（XRF）可現場進行快速的合金分析與鑒定，已在廢料場上得到了廣泛應用。
X-MET8000 S手持式合金分析儀的優勢：
?出眾的元素（從Ti到U）分析，提供準確的牌號鑒定，確認金屬 合金價值；?快速及準確的元素分析及牌號鑒定（自帶牌號庫）；?重量輕（1.5公斤）、體積小，符合人體工學設計，電池續航時間長達8至10小時；?快速開機：數秒內完成開機并進行檢測；?樣品尺寸和形狀自動補償，可準確測試直徑低至1mm的管材、桿材、線材、焊縫、緊固件、車削屑和碎屑等。
二、材料可靠性鑒定（PMI）
X-MET8000 S是理想的材料可靠性鑒定（PMI）和質量控制工具。
操作人員和維修人員可用手持式X 射線熒光光譜儀（XRF）現場對關鍵工序部件進行快速、無損的牌號鑒別和元素分析，由此減少由于關鍵部件故障而引發的事故，從而提高使用過程。
X-MET8000 手持式合金分析儀用于PMI的優勢：
?可現場進行快速的合金分析；?出眾的元素（從Ti到U）分析，提供牌號鑒定，可對零部件和系統進行嚴密控制；?具有超低的檢出限，可完成微量/夾入元素分析；?可完成快速而牌號鑒定，配備完整的金屬牌號庫；?重量輕（1.5公斤）、體積小， 符合人體工學設計，電池續航時間長達8至10小時；?快速開機：數秒內完成開機并進行檢測；?儀器頭部：可輕松檢測彎曲及拐角部位（如焊縫）。
三、生產制造QA/QC
X-MET8000 S是一款能在生產過程中完成無損檢測的理想質量
控制分析儀。手持式X射線熒光分析儀（XRF）是用于質量控制檢
驗的工具，因為這種分析儀簡單易用，能夠在現場提供快速
的無損分析。
X-MET8000 手持式合金分析儀用于質量控制QA/QC的優勢：
?出眾的元素（從Ti到U）分析，提供準確的牌號鑒定，可對零部件和系統進行嚴密控制；?具有超低的檢出限，可完成微量/夾入元素分析；?快速分析和準確的牌號鑒定：數秒內出檢驗結果，減少實驗室測試，降低成本，縮短時間；?重量輕（1.5公斤）、 體積小，符合人體工學設計，電池續航時間長達8至10小時；?數秒內完成開機并進行檢測；?樣品尺寸和形狀自動補償，可準確測試直徑小至1mm的管材、桿材、線材、焊縫、緊固件車削屑和碎屑等。四、鍍層分析對于鍍層厚度進行快速，無損和準確的分析已經非常重要。X-MET8000 S手持式成分分析儀相比臺式分析儀器在金屬表面處理工藝中有著的優勢，它無需切割樣品，無需花費較長的時間來等待檢測結果。五、貴金屬X-MET8000 S是理想的珠寶及貴金屬分析儀。手持式X 射線熒光分析儀可對大小形狀的貴金屬物品進行無損的“對準即測"多元素分析，被廣泛用于珠寶及貴金屬測試。X-MET8000 S手持式貴金屬分析儀優勢：
無損檢測：樣品測試后無任何印記，亦不會有任何材料和價值損耗快速而準確：較大的分析量，以利于高產量和率
超低的檢出限：可準確分析雜質和有毒元素（如Pb 和Cd），以確定可能存在的危害元素
簡便攜帶：外形小巧輕便（含電池1.5公斤），所有附件均可裝入手提箱，運輸輕松方便。
堅固耐用：IP54防護等級，具有防塵和防水性能。
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