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筱曉(上海)光子技術(shù)有限公司
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產(chǎn)品型號
品 牌
廠商性質(zhì)其他
所 在 地上海市
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更新時間:2024-06-06 11:37:20瀏覽次數(shù):94次
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總覽光學(xué)后向散射反射儀(OpticalBackscatterReflectometer)LunaOBR4600是Luna屢獲殊榮的光學(xué)后向反射儀TM產(chǎn)品線的一部分
總覽
光學(xué)后向散射反射儀(Optical Backscatter Reflectometer) Luna OBR 4600是Luna屢獲殊榮的光學(xué)后向反射儀TM產(chǎn)品線的一部分。OBR 4600專為組件和短期網(wǎng)絡(luò)測試和故障排除而設(shè)計,可實現(xiàn)具有反向散射水平靈敏度的超高分辨率反射計。OBR 4600具有低至10微米的采樣分辨率、零死區(qū)、極低的噪聲基底,以及擴(kuò)展范圍和分布式溫度和應(yīng)變傳感的選項,提供了行業(yè)優(yōu)秀的反射計技術(shù),使您能夠所未有地“看到”您的組件和系統(tǒng)內(nèi)部。
OBR 4600背光反射計 O、C和L波段 (2000m測量長度 10um空間分辨率 適用實驗室),OBR 4600背光反射計 O、C和L波段 (2000m測量長度 10um空間分辨率 適用實驗室)•“Zero Dead Zone零死區(qū)”反射計
•以10μm采樣分辨率測量30 m
•80 dB動態(tài)范圍
•后向散射級靈敏度(-130 dB)
•高速掃描(1 m段,z高3 Hz)
•增程提供2公里無死區(qū)的續(xù)航里程
•測量IL、RL、分布損耗、距離、極化狀態(tài)、相位導(dǎo)數(shù)和群延遲
•高分辨率C和L波段(OBR 4600)或O波段(OBR-4613)能力
方便地定位及診斷光纖的彎折、熔接、連接頭及斷裂等各類故障
定位各點的插損,對小型化組件所未有的可見性
輕松定位、識別和排除宏觀彎曲、拼接、連接器和斷裂,深入期間內(nèi)部,評估每個接口的RL和IL,將IL點定位在網(wǎng)絡(luò)或組件中的每個點上——消除削減(assembly – eliminate cutbacks)
7秒內(nèi)以10微米的分辨率完成30米的測量
以3Hz的頻率連續(xù)測量1米的范圍
可測試并定位2千米的光纖網(wǎng)絡(luò)故障
光纖組件的自動檢驗
器件或模塊內(nèi)溫度及應(yīng)力的監(jiān)測
光纖或無源器件的故障定位
光纖溫度傳感、光纖應(yīng)力傳感
型號對比
參數(shù) | OBR 5T-50 | OBR 4200 | OBR 4600系列 |
波長范圍 | 1546.69nm | 1542±2nm | (OBR 4613) 1270-1340nm (OBR 4600) 1525-1610nm |
靈敏度 dB | -125 | -125 | -130 |
空間分辨率 mm | 0.02 | 1.5 | 0.01 |
插損動態(tài)范圍 dB | 10 | 16 | 18 |
回?fù)p動態(tài)范圍 dB | 65 | 50 | 70 |
相位測量功能 | 無 | 無 | 有 |
傳感功能 | 無 | 無 | 有 |
Max. 測量長度 m | 8.5(可延長到16) | 500 | 2000 |
測試時長 s | 0.084(8.5m) | 3.8(10m) | 6(30m) |
點掃描模式
點掃描模式允許掃描被測設(shè)備的任何1米或2米區(qū)域,從而縮短測量時間和更小的數(shù)據(jù)文件。下表中的速率用于以100nm/s的激光調(diào)諧速度進(jìn)行的測量。
點掃描測量速率 | ||||
Mode | - | 30 m mode | 70 m mode | Extended Range (2000 m) |
掃描的子區(qū)域 | - | 1 or 2 m | 1 or 2 m | 80 m |
波長范圍 | 3.2 nm | - | - | 0.15 Hz |
5 nm | 3.7 Hz | 2.9 Hz | - | |
20 nm | 1.8 Hz | 1.2 Hz | - | |
80 nm | 0.5 Hz | - | - | |
z佳采樣分辨率 | 10 μm | 20 μm | 0.25 mm |
示例應(yīng)用
硅光子器件構(gòu)建在硅光子平臺上,代表了一種高水平的功能,可小型化為的封裝密度。OBR 4600的高空間分辨率和高靈敏度提供了以非常高的細(xì)節(jié)水平查看設(shè)備內(nèi)部的能力。
例如,UCSB的光電子研究小組在硅平臺上制造了一條一米長的螺旋延遲線。OBR 4600用于測量光子集成電路(PIC)內(nèi)部的分布損耗,該電路的尺寸僅為1cm2。
波導(dǎo)的水平部分在螺旋上的掃描如左下圖所示。波導(dǎo)交叉點間隔僅50微米,清晰可見。
1米的螺旋波導(dǎo)顯示在掃描波導(dǎo)中,與下面的螺旋環(huán)交叉。右圖清楚地顯示了一米螺旋上的分布損耗,包括水平波導(dǎo)交叉處的散射。
OBR 4600背光反射計參數(shù)表
參數(shù) | 規(guī)格指標(biāo) | 單位 | ||
Max. 測量長度: | ||||
標(biāo)準(zhǔn)模式 | 30或70 | meters | ||
長量程模式 | 2000 | meters | ||
空間分辨率(兩點間)1: | ||||
10um(30米內(nèi)) | um | |||
20um(70米內(nèi)) | mm | |||
1mm(2000米內(nèi)) | mm | |||
死區(qū): | ||||
等于兩點間的空間分辨率 | ||||
波長范圍2: | ||||
1270-1340 或 1525-1610 | nm | |||
波長 | ||||
分辨率(Max. ) | 0.02 | pm | ||
精度3 | ±1.5 | pm | ||
回?fù)p: | ||||
動態(tài)范圍4 | 70 | dB | ||
總范圍 | 0~-125 | dB | ||
靈敏度 | -130 | dB | ||
分辨率 | ± 0.05 | dB | ||
回?fù)p精度 | ± 0.1 | dB | ||
插損: | ||||
動態(tài)范圍5 | 18 | dB | ||
分辨率 | ± 0.05 | dB | ||
插損精度 | ± 0.10 | dB | ||
群延時: | ||||
精度 | 1.0 | ps | ||
分布式傳感6: | ||||
空間分辨率 | ±1.0 | cm | ||
溫度精度7 | ±0.1 | ℃ | ||
應(yīng)力精度7 | ±1.0 | μstrain | ||
測量時間8: | 標(biāo)準(zhǔn)模式 | 快速掃描11 | 定點模式11 | |
5nm掃描時間 | 3 | 1.6 | 0.3 | s |
時間與掃描波長速度 | 2.1s+0.14s/nm | 1.3s+0.06s/nm | 0.15s+0.02s/nm | |
長量程(2km)掃描時間 | 20 | s |
所有參數(shù)適用于單模光纖。
對于多模光纖,參數(shù)僅為名義值
1. 在整個長度內(nèi)。
2. 名義范圍。
3. 精度由內(nèi)置的、NIST可追溯的HCN氣室來保證。
4. 對于2千米的選項,回?fù)p動態(tài)范圍是60dB。
5. 這個插損動態(tài)范圍是在標(biāo)準(zhǔn)的單模光纖散射水平(~-100dB/mm)低于背景噪聲(~-118dB/mm)前的單程損耗。
分布式傳感
分布式傳感作為一種選擇,允許您使用OBR 4600通過分析標(biāo)準(zhǔn)現(xiàn)成光纖固有的瑞利散射來檢測和監(jiān)測連續(xù)應(yīng)變和溫度,用戶指出的空間分辨率低至0.32毫米。或者,Luna ODiSI平臺針對傳感應(yīng)用進(jìn)行了優(yōu)化,并提供易于使用的,可重復(fù)和穩(wěn)健的傳感器測量解決方案。具有分布式傳感選項的OBR 4600在需要額外靈活性和定制的專業(yè)或研究應(yīng)用中te別有用。
型號說明
Catalog # | Description | Includes |
OBR 4600 | 光學(xué)后向散射反射計,1525 nm-1610 nm | OBR 4600主機(jī),適用于C和L波段和標(biāo)準(zhǔn)長度模式(30米和70米),儀器控制器(工作站級筆記本電腦)和配件套件。 |
OBR 4613 | 光學(xué)后向散射反射計,1270 nm-1340 nm | 用于O波段和標(biāo)準(zhǔn)長度模式(30米和70米)的OBR 4600主機(jī)、儀器控制器(工作站級筆記本電腦)和配件套件。 |
OPT06009 | 2000m測量擴(kuò)展型號 | 可選擇掃描長度不超過2km、樣本間距為1mm的設(shè)備。 |
OPT06004 | 桌面分析軟件 | 僅使用保存的OBR測量數(shù)據(jù)文件,提供OBR 4600的所有分析和數(shù)據(jù)可視化的軟件。 |
OPT06008 | 自定義軟件開發(fā)工具包 | 帶有允許自定義GUI開發(fā)的DLL的SDK工具包。 |
更新時間:2024/1/15 13:34:01
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