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X-Strata980結合了大功率X射線管和高分辨率探測器,能夠滿足多鍍層、復雜樣品和微小測試面積
的檢測需求
X-Strata980(X熒光鍍層測厚及元素分析儀)簡介:
X-Strata980結合了大功率X射線管和高分辨率探測器,能夠滿足多鍍層、復雜樣品和微小測試面積
的檢測需求。這款儀器的電制冷固態探測器確保的信/躁比,從而降低檢測下限。探測器分辨率*,
能更容易地識別、量化和區分相鄰的元素。有害元素檢測結果可精確到ppm級,確保產品滿足環保要求,
幫助企業降低高昂的產品召回成本和法令執行成本。您可以針對您的應用選擇zui合適的分析模型:經驗系
數法、基本參數法或兩者結合。這款儀器能對電子產品上的關鍵組裝區域進行快速篩選性檢測。一旦識別
出問題區域,即可對特定小點進行定量分析。大型樣品艙能夠靈活地檢測大件或形狀不規則的樣品,大艙
門使樣品更易放入。
X-Strata980(X熒光鍍層測厚及元素分析儀)應用:
--RoHS/WEEE
--有害元素痕量分析
--焊料合金成分分析和鍍層厚度測量
--電子產品中金和鈀鍍層的厚度測量
--五金電鍍、CVD、PVD鍍層的厚度測量
--貴金屬合金分析和牌號鑒定
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