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FPD/LSI檢查顯微鏡ECLIPSE L300ND、L300N和L200ND、L200N

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上海舜建儀器有限公司

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產(chǎn)品簡(jiǎn)介

FPD/LSI檢查顯微鏡ECLIPSE L300ND、L300N和L200ND、L200N，這一系列半導(dǎo)體顯微鏡是檢測(cè)集成電路（IC）、平板顯示器（FPD）、大規(guī)模集成（LSI）電子設(shè)備和許多其他應(yīng)用的理想選擇。

詳細(xì)介紹

FPD/LSI檢查顯微鏡ECLIPSE L300ND、L300N和L200ND、L200N用于檢查大型樣品的高級(jí)顯微鏡

采用尼康CFI60-2光學(xué)系統(tǒng)設(shè)計(jì)，成像清晰；可搭配數(shù)碼相機(jī)。


尼康ECLIPSE L300N(D)和L200N(D) 用于硅片（L200N系列為200mm，L300N系列為300mm）、分劃板和其它大型平板類電子零部件的光學(xué)檢查。	尼康CFI60-2光學(xué)系列尼康的創(chuàng)新設(shè)計(jì)，支持實(shí)現(xiàn)清晰的、高對(duì)比度的明場(chǎng)、暗場(chǎng)、熒光、偏光（POL）、微分干涉（DIC）鏡檢，以及雙光束干涉測(cè)量。

尼康Digital Sight數(shù)碼相機(jī) 尼康全系列Digital Sight數(shù)碼相機(jī)都能高效地進(jìn)行拍照，并可將當(dāng)前在用物鏡、倍率轉(zhuǎn)換設(shè)置和照明光亮度等參數(shù)一起傳送到NIS-Elements顯微鏡圖像處理軟件中。	L200N與NWL200聯(lián)合使用在半導(dǎo)體行業(yè)中得到廣泛認(rèn)可和信任，目前有許多裝置在使用。