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上海旭為光電科技有限公司
Difrotec 在光學測試方面開發了一項突破性技術Difrotec 在光學測試方面開發了一項突破性技術Difrotec是超高精度光學表面貼圖的。我們在光學系統和光學圖像處理的數學建模,開發用于DUV和EUV光刻的高精度光學系統的組裝,調整和測試的計算機模型的開發方面擁有30多年的經驗,在點衍射波陣面研究方面已有8年以上的經驗測試各種參數的光學元件。我們開發設計和制造了市場上臺商......
峰谷精度 | ± 0.6 nm (λ / 1000) |
峰谷分辨率 | 0.05 nm(λ/ 12000) |
波前RMS重復性 | < 0.23="" nm(λ=""> |
單點RMS重復性 | < 0.06="" nm(λ=""> |
激光類型和波長 | He-Ne ,632.8 nm |
數值孔徑NA | 0.55(f#0.91) |
數據采集 | 相移干涉技術(PSI) |
圖像縮放系統 | 通過軟件界面控制4倍光學變焦 |
采集時間 | 10ms |
曝光時間 | 最小40μs |
光學聚焦范圍 | ±2m |
理想參考:無使用物理參考引入的傳播錯誤
透射球面檢測精度比Fizeau干涉儀的檢測精度高100倍
D7比其他干涉儀檢查更多的表面特征
高穩定性
應用范圍廣
無回程誤差
2.球形凸面:
3.平面:
4.光學系統(波前質量測試):
光學測試和測量服務包括測試光學系統的凹面,凸面,直角立方體,平面,非球面,自由形式和透射波前的表面圖形,以及曲率半徑的測量
基于在高精度光學系統計算機建模方面的30多年經驗,我們建立了自己的合作伙伴關系,以設計和制造高質量的光學器件。我們在光學制造方面的長期合作伙伴是KPU-韓國工業大學。
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