詳細摘要： 一、產品概述實際光學系統成像與理想光學系統成像之間的差異成為像差，該參數主要用于評價光學系統的成像質量；傳遞函數測量法是工程上常用于光學系統成像質量評價的方法
產品型號：所在地：武漢市更新時間：2024-07-03 在線留言PLC 工控機 嵌入式系統 人機界面 工業以太網 現場總線 變頻器 機器視覺 DCS PAC/PLMC SCADA 工業軟件 ICS信息安全 應用方案 無線通訊
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詳細摘要： 一、產品概述實際光學系統成像與理想光學系統成像之間的差異成為像差，該參數主要用于評價光學系統的成像質量；傳遞函數測量法是工程上常用于光學系統成像質量評價的方法
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詳細摘要： 一、產品概述物理光學是光學與光學工程專業的主要內容，本實驗以光的波動性為主要研究對象，從電磁波理論和傅立葉分析兩個角度，研究光的傳播、干涉、衍射、偏振等性質
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詳細摘要： 一、產品概述雙光束干涉儀是通過分束鏡得到兩束光程和強度都接近而且夾角易于調節的光束，在光束的重疊區將產生干涉條紋，用于物理/光學專業教學的演示儀器
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詳細摘要： 一、產品概述該儀器將電控系統、光具座有機的結合在一起，具有良好的整體特色，并將電壓表將光的偏振狀態顯示出來，使實驗的安排和整理更加簡便和明晰
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詳細摘要： 一、產品概述該儀器將電控系統、光具座有機的結合在一起，具有良好的整體特色，并將光的偏振狀態直接顯示在計算機上，使實驗的安排和整理更加簡便和明晰
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詳細摘要： 一、產品概述該儀器具有良好的整體性特色，電源，光具座和存放調整架的工具箱有機的結合在了一起
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詳細摘要： 一、產品概述該儀器具有良好的整體性特色、電源、光局座和存放調整架的工具箱有機結合在了一起
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詳細摘要： 一、產品概述該儀器具有良好的整體性特色、電源、光局座和存放調整架的工具箱有機結合在了一起
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詳細摘要： 一、產品概述該儀器主要利用導軌、支架及光學組件、如雙棱鏡分成兩束光，將兩束光相遇產生的明暗相間的干涉條紋用讀數顯微鏡測出條紋間距，再用二次成像繪測出一大、一小兩...
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