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半導體芯片快速溫變冷熱沖擊試驗箱

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參考價: ￥ 25900

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更新時間：2025-06-16 10:11:44瀏覽次數：17次

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廣東皓天檢測儀器有限公司

經營模式：生產廠家

商鋪產品：100條

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產品簡介

半導體芯片快速溫變冷熱沖擊試驗箱專為模擬芯片在溫度環境下的瞬間切換場景而設計，用于檢測芯片在劇烈溫度變化中的電氣性能穩定性、結構可靠性及材料耐受性。通過快速實現高溫、低溫環境的交替轉換，可有效暴露芯片因熱應力產生的潛在缺陷，如焊點開裂、封裝變形等問題，為芯片研發、生產過程中的工藝優化、質量管控提供關鍵數據支撐，助力提升芯片產品的整體性能與市場競爭力。

詳細介紹

半導體芯片快速溫變冷熱沖擊試驗箱

用途

專為模擬芯片在溫度環境下的瞬間切換場景而設計，用于檢測芯片在劇烈溫度變化中的電氣性能穩定性、結構可靠性及材料耐受性。通過快速實現高溫、低溫環境的交替轉換，可有效暴露芯片因熱應力產生的潛在缺陷，如焊點開裂、封裝變形等問題，為芯片研發、生產過程中的工藝優化、質量管控提供關鍵數據支撐，助力提升芯片產品的整體性能與市場競爭力。

技術參數

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參數名稱	參數詳情
溫度范圍	-70℃至 150℃（可定制）
溫度沖擊范圍	從高溫到低溫轉換時間≤5s
溫度波動度	±0.5℃
溫度均勻度	±2℃
升溫速率	≥5℃/min（空載）
降溫速率	≥5℃/min（空載）
內部尺寸	800×600×600mm（可定制）