| 西安中川光電科技有限公司
主營產(chǎn)品： RLK 系列光電傳感器，糾偏傳感器，對(duì)射槽型，同軸反射型， |
會(huì)員1.png)
公司信息
| 參考價(jià) | 面議 |
- 型號(hào)
- 品牌
- 廠商性質(zhì) 生產(chǎn)商
- 所在地 西安市
聯(lián)系方式：黃波查看聯(lián)系方式
更新時(shí)間：2025-06-01 10:07:17瀏覽次數(shù)：26
聯(lián)系我們時(shí)請(qǐng)說明是智能制造網(wǎng)上看到的信息，謝謝!
RLK900高分辨率XAFS/XES光譜儀
RLK900高分辨率XAFS/XES光譜儀，是目前國際的新型XAFS/XES光譜儀。RLK900居于新原理和新結(jié)構(gòu)；采用的、的SBCA晶體，實(shí)現(xiàn)X射線的單色掃描；采用小功率的X-Ray源，使研究試驗(yàn)室內(nèi)就能夠方便運(yùn)行。
RLK900高分辨率XAFS/XES光譜儀，可以完成XAS(X-ray Absorbtion SpectroScopy)和XES(X-ray Emmision Spectroscopy)兩種光譜的研究，能夠獲得掃描范圍5keV-12keV，分辨率優(yōu)于1eV的譜線。
RLK900高分辨率XAFS/XES光譜儀，將信號(hào)探測、掃描控制、數(shù)據(jù)顯示高度集成化，使用前只需簡單的參數(shù)設(shè)置、校準(zhǔn)確認(rèn)，即可方便進(jìn)行研究試驗(yàn)。
RLK900高分辨率XAFS/XES光譜儀，作為一種目前國際型的儀器，為各種材料研究分析拓展手段，用戶能夠在實(shí)驗(yàn)室就能隨時(shí)開展研究，而不再受到條件限制。可廣泛應(yīng)用于各種材料研究分析領(lǐng)域，包括納米材料、半導(dǎo)體材料、催化材料、生物材料、特種材料、礦產(chǎn)分析等。將成為材料研究必選設(shè)備。
v 產(chǎn)品特點(diǎn)(Features)
? 新原理新構(gòu)造：居于新原理和新構(gòu)造的X-ray光譜儀；
? 高分辨率： 采用的、的SBCA晶體作為核心器件，實(shí)現(xiàn)X射線單色掃描，分辨率達(dá)到1eV；
? 高品質(zhì)能譜曲線：與同步輻射相當(dāng)品質(zhì)的能譜曲線；
? 試驗(yàn)室儀器： 在試驗(yàn)室就可完成XAFS/XES的研究，不再受到條件限制；
? 高集成性： 儀器集成探測、控制、分析，軟件運(yùn)行于Windows操作系統(tǒng)；
? 應(yīng)用面廣： 納米材料、半導(dǎo)體材料、催化材料、生物材料、特種材料、礦產(chǎn)分析等各種材料研
究分析領(lǐng)域
v 技術(shù)指標(biāo)(Specification)
型號(hào)Model | RLK900 高分辨率XAFS/XES光譜儀 |
原理Principle | SBCA晶體、Roland圓、X-ray單色掃描 |
能量范圍 Energy Range | 5KeV-12KeV |
能量分辨率 Energy Resolution | 0.5-1.5eV |
工作模式 Working Mode | XAS/XES |
布拉格角范圍 Bragg Angle Range | 65°-85° |
X射線源 X-ray Tube | 10W（Max）50KV@200uA(X 光點(diǎn)直徑～0.5mm) |
光學(xué)系統(tǒng) Optics System | SBCA單色分光、Roland圓Bragg掃描(Rolａnd 直徑500mm) |
探測器Detector | 半導(dǎo)體電制冷SDD |
通訊接口 Communication interface | RS-232 |
工作電壓 Power Supply | 220VAC |
工作溫度 Temperature | -10℃ ~ +50℃ |
外形尺寸Dimension | 1200(L)*1200(W)*1100(H) |
重量Weight | 350Kg |
軟件Software | RLK900專用軟件(WindowsXP/Windows 7) |
