SA晶體測試系統250B-1

美國SAUNDERS公司已推出革命性之晶體測試設備　S&A250B-1晶體測試系統。S&A250B-1拋開了傳統概念，以高科技SMD技術，將硬體濃縮成板卡置入電腦內，軟體功能更是發揮超快速量測之極至。以下為S&A250B網路分析儀的優異性能：

SA250B-2網絡分析儀

1.超快量測速度:一般參數量測只需0.1秒(< 100m秒)，DLD量測100個點只需1秒
(10m秒/點)。寄生振蕩有多種掃描型式: Normal，Wide，Hi-Q X’tal，Ceramic Resonator，X’tal Blank，一般寄生振蕩量測只需0.3秒。

2.
三種FL量測方式:計算法Calculated FL，仿真法Measured FL，實體電容法
Physical load FL。

3.
使用Window作業平臺操作方便，全功能圖解軟體，可量測晶體及陶瓷諧振器；爾后在現有硬體基礎上，再選配升級軟體即可量測晶體濾波器。

4.
采用PC板卡插入電腦；兩通道量測配上不同測試座，可交替量測SMD及Leaded
晶體產品。

5.
量測資料可立即輸出(采開放式資料庫聯機ODBC格式)供即時監控及分析用。

6.
可做頻率及功率的掃描(如350A, 350B的Sweep & Plot功能)。

7.
系統在1MHz以上使用時,校正速度快,短路, 50Ω及開路校正袛需30秒。

8.
新增低頻晶體量測;運用150KΩ測試座,配合低頻量測軟體,可提升低頻晶體量測精度與速度. 如32.768KHz表晶量測。

SA250B-2網絡分析儀規格:

1.
量測頻率范圍:

.15KHz~220MHz.。

2.
頻率比對精度：±1PPM在串聯諧振。

3.
晶體功率:

0.1nW~1000μW (≦50 MHz)

0.1nW~500μW (>50MHz)

4.通道: A, B雙通道量測。

5.電腦選型: Pentium 4，Win10 Pro

帶+5V及3.3V電源，PCI卡槽電腦。

網絡分析儀一種能在寬頻帶內進行掃描測量以確定網絡參量的綜合性微波測量儀器。全稱是微波網絡分析儀。網絡分析儀是測量網絡參數的一種新型儀器，可直接測量有源或無源、可逆或不可逆的雙口和單口網絡的復數散射參數，并以掃頻方式給出各散射參數的幅度、相位頻率特性。自動網絡分析儀能對測量結果逐點進行誤差修正，并換算出其他幾十種網絡參數，如輸入反射系數、輸出反射系數、電壓駐波比、阻抗（或導納）、衰減（或增益）、相移和群延時等傳輸參數以及隔離度和定向度等。