深入了解測量投影儀的工作原理及使用方法

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測量投影儀被測工件Y置于工作臺上,在透射或反射照明下,它由物鏡0成放大實像Y′（倒像）并經光鏡M1與M2反射于投影屏P的磨沙面上。當反光鏡M1換成反像系統后,Y′即成為反像,一個與工件*反向的影像,CM-300-C/D反像投影儀在屏上可用標準玻璃工作尺對Y′進行測量，也可以用預先繪制好的標準放大圖對它進行比較測。測得的數值除以物鏡的放大倍數即是工件的測量尺寸。還可以利用工作臺上的數位測量系統對工件Y進行座標測量；也可利用投影屏旋轉角度數顯系統對工件的角度進行測量。
圖中S1與S2分別為透射和反射照明光源，K1與K2分別為透射和反射聚光鏡。視工件的性質，兩種照明可分別使用，也可同時使用。半反半透鏡L 僅僅在反射照明時才使用。

二、 儀器總體結構
主要由投影箱,主殼體和工作臺）三大部分構成。
2.1 投影箱:包括儀器的成像系統即物鏡,反光鏡M1與M2投影屏和SDS5-3PJ多功能資料測量處理電箱。投影屏旋轉機構上裝有角度感測器。
2.2 儀器主殼體:除支撐投影箱和工作臺外,儀器的照明系統,電器控制系統,以及冷卻風扇等均裝上面。
2.3 儀器工作臺:包括從（X軸）、橫（Y軸）向運動（座標測量用）和垂向（Z軸）運動（調焦用）。X軸與Y軸配有解析度為0.001mm的光柵線位移感測器。
三、 儀器測量方法
投影儀測量方法概括為2類: 輪廓測量與座標測量.

3.1 輪廓測量
1） 用“標準放大圖”進行比較測量
此法適用于形狀復雜，批量大的零件檢驗。步驟為：
2） 按零件大小確定物鏡倍率,再按零件設計圖紙制作與物鏡放大倍率相同比例的標準放大圖,材料選用伸縮性較小的透明塑膠片.在圖上還可以繪出允許的公差帶,如零件尺寸在￠30左右,則制10:1的放大圖,選用10X物鏡進行測量.標準圓弧、角度、螺紋、齒形、網格、等放大圖也有現成的可購買。
3） 將標準放大圖用四只彈性壓板在投影屏上.
4） 工件放在工作臺上,調好焦.移動X、Y工作臺使零件影像與放大圖套準。
5） 若工作影像與放大圖的偏差在公差帶之內,則為合格.超出范圍為不合格,偏差數值可以用X、Y座標測量出來。
6） 用格值為0.5mm標準玻璃工作尺（選購附件）在屏上直接測量工件影像的大小（小于格值部分也可用X、Y座標數顯測出），除以物鏡放大倍數即為工件的測量尺寸.


3.2 座標測量
分為單坐標測量和數據處理器功能測量：

1）單座標測量
a） 工件置工作臺上,選用倍率較高的物鏡,調好焦. 圖2 單座標測量示意圖
b） 投影屏旋轉零位對準,即屏框上的短白線對準零位元標記.
c） 調整工件被測方向測量軸平行,如圖9中BC邊平行于X軸.
d） 移動工作臺,將被測長度的一個端面如AB邊對準屏上的垂直刻線,X座標值清零.
e） 移動X軸,使工件另一端面如CD邊對準垂直刻線.X軸顯示值即工件AD邊的尺寸.

2）功能測量
利用數據處理器的多功能資料處理電箱上座標旋轉功能（SKEW）,工件可以任意擺放,無需調整,只需移動工作臺,使A、B、C、D、E依次對準十字線中點采樣，就可測出相應長度，這樣可以節省大量調整時間、提高測量效率。