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光學膜厚控制儀（器材） 型號:MN66-GM-X03    庫號：M12664

真空鍍膜，膜厚控制儀
本儀器是相位鎖定放大器，用于光學鍍膜膜層厚度測量和控制。它由主信號通道，參考信號通道和的四階低Q濾波組成，有很強的諧波抑制能力和動態儲備，能測量深埋于噪聲或直流漂移中微弱的信號幅度和相位。
采用進品高精密元件制作和DAAS是數字頻譜分析系統測試，確保儀器具有可靠的質量和*的性能。
高穩定性。操作簡便，實用性強
參數：

GM-X03
主信號通道：電壓單端輸入
滿程靈敏度：0.5mV~500mV
頻率范圍：1KHz,±5%
鎖相噪聲：≦4nV
線性誤差：≦1%
零點漂移：0.2%（小時）
參考信號通道：電壓單端輸入
輸入幅度：20mV~700mV
頻率范圍：1KHz,±5%
相位鎖定范圍：≧320°
電源電壓：220VAC/50Hz
外形尺寸：寬482x高89x深322（mm）/標準2U面板
凈重：7.5Kg
光學膜厚控制儀（器材） 型號:MN66-GM-X03