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(LQS）兩探針電阻率測試儀探針頭 型號:KD09-KDT-9/10庫號：M406300 (LQS）兩探針電阻率測試儀探針頭 型號:KD09-KDT-9/10庫號：M406300 (LQS）兩探針電阻率測試儀探針頭 型號:KD09-KDT-9/10庫號：M406300
兩探針電阻率測試儀KDY-2 探針頭 型號:KD09-KDT-9/10
庫號：M406300 查看hh
midwest-group
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KDT-9 探針間距1.59mm，壓力4-10N；
以上兩種規(guī)格探針頭用于測量截面面積均勻，截面形狀為方形、矩形或圓形，樣品的長度與截面zui大尺寸之比不應(yīng)小于3：1，循環(huán)實(shí)驗(yàn)測試樣品的zui大直徑為3.75cm，電阻率在0.0009-3000之間的單晶棒電阻率。
KDT-10 探針間距10mm，壓力6-10N；
此規(guī)格探針頭用于測量鍺錠的電阻率。
兩探針電阻率測試儀KDY-2 探針頭 型號:KD09-KDT-9/10
庫號：M406300 查看hh
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KDT-9 探針間距1.59mm，壓力4-10N；
以上兩種規(guī)格探針頭用于測量截面面積均勻，截面形狀為方形、矩形或圓形，樣品的長度與截面zui大尺寸之比不應(yīng)小于3：1，循環(huán)實(shí)驗(yàn)測試樣品的zui大直徑為3.75cm，電阻率在0.0009-3000之間的單晶棒電阻率。
KDT-10 探針間距10mm，壓力6-10N；
此規(guī)格探針頭用于測量鍺錠的電阻率。
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