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MiniTest1100德國EPK MiniTest1100 涂層測厚儀
參考價: 面議
具體成交價以合同協議為準
  • MiniTest1100 產品型號
  • 品牌
  • 經銷商 廠商性質
  • 深圳市 所在地

訪問次數:261更新時間:2022-02-07 18:07:03

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產品簡介
德國EPK MiniTest1100 涂層測厚儀
產品介紹

德國EPK    MiniTest1100 涂層測厚儀

MiniTest1100/2100/3100/4100包括四種不同的主機,各自具有不同的數據處理功能;
所有型號均可配所有探頭;
可通過RS232接口連接MiniPrint打印機和計算機;
可使用一片或二片標準箔校準。

  涂層測厚儀MiniTest1100

MiniTest涂層測厚儀功能
型號 1100 2100 3100 4100
MINITEST 存儲的數據量
應用行數(根據不同探頭或測試條件而記憶的校準基礎數據數) 1 1 10 99
每個應用行下的組(BATCH)數(對組內數據自動統計,并可設寬容度極限值) - 1 10 99
可用各自的日期和時間標識特性的組數 - 1 500 500
數據總量 1 10000 10000 10000
MINITEST統計計算功能
讀數的六種統計值x,s,n,max,min,kvar -
讀數的八種統計值x,s,n,max,min,kvar,Cp,Cpk - -
組統計值六種x,s,n,max,min,kvar - -
組統計值八種x,s,n,max,min,kvar,Cp,Cpk - -
存儲顯示每一個應用行下的所有組內數據 - - -
分組打印以上顯示和存儲的數據和統計值 - -
顯示并打印測量值、打印的日期和時間 -
其他功能
透過涂層進行校準(CTC) -
在粗糙表面上作平均零校準
利用計算機進行基礎校準
補償一個常數(Offset) - -
外設的讀值傳輸存儲功能 -
保護并鎖定校準設置
更換電池是存儲數值
設置極限值 - -
公英制轉換
連續測量模式快速測量,通過模擬柱識別zui大zui小值 - -
連續測量模式中測量穩定后顯示讀數 - -
浮點和定點方式數據傳送
組內單值延遲顯示 -
連續測量模式中顯示zui小值

MiniTest涂層測厚儀可選探頭參數探頭圖示
所有探頭都可配合任一主機使用。在選擇zui適用的探頭時需要考慮覆層厚度,基體材料以及基體的形狀、厚度、大小、幾何尺寸等因素。
F型探頭:測量鋼鐵基體上的非磁性覆層
N型探頭:測量有色金屬基體上的絕緣覆層
FN兩用探頭:同時具備F型和N性探頭的功能
探頭 量程 低端
分辨率
誤差 zui小曲率
半徑(凸/凹)
zui小測量
區域直徑
zui小基
體厚度
探頭尺寸



F05 0-500μm 0.1μm ±(1%±0.7μm) 1/5mm 3mm 0.2mm φ15x62mm
F1.6 0-1600μm 0.1μm ±(1%±1μm) 1.5/10mm 5mm 0.5mm φ15x62mm
F1.6/90 0-1600μm 0.1μm ±(1%±1μm) 平面/6mm 5mm 0.5mm φ8x8x170mm
F3 0-3000μm 0.2μm ±(1%±1μm) 1.5/10mm 5mm 0.5mm φ15x62mm
F10 0-10mm 5μm ±(1%±10μm) 5/16mm 20mm 1mm φ25x46mm
F20 0-20mm 10μm ±(1%±10μm) 10/30mm 40mm 2mm φ40x66mm
F50 0-50mm 10μm ±(3%±50μm) 50/200mm 300mm 2mm φ45x70mm


FN1.6 0-1600μm 0.1μm ±(1%±1μm) 1.5/10mm 5mm F0.5mm
N50μm
φ15x62mm
FN1.6P 0-1600μm 0.1μm ±(1%±1μm) 平面 30mm F0.5mm
N50μm
φ21x89mm
FN2 0-2000μm 0.2μm ±(1%±1μm) 1.5/10mm 5mm F0.5mm
N50μm
φ15x62mm



N02 0-200μm 0.1μm ±(1%±0.5μm) 1/10mm 2mm 50μm φ16x70mm
N.08Cr 0-80μm 0.1μm ±(1%±1μm) 2.5mm 2mm 100μm φ15x62mm
N1.6 0-1600μm 0.1μm ±(1%±1μm) 1.5/10mm 2mm 50μm φ15x62mm
N1.6/90 0-1600μm 0.1μm ±(1%±1μm) 平面/10mm 5mm 50μm φ13x13x170mm
N10 0-10mm 10μm ±(1%±25μm) 25/100mm 50mm 50μm φ60x50mm
N20 0-20mm 10μm ±(1%±50μm) 25/100mm 70mm 50μm φ65x75mm
N100 0-100mm 100μm ±(1%±0.3mm) 100mm/平面 200mm 50μm φ126x155mm
CN02 10-200μm 0.2μm ±(1%±1μm) 平面 7mm 無限制 φ17x80mm
注: F1.6/90、F2/90、N1.6/90、N2/90為直角探頭,用于管內測量。
N.08Cr適合銅上鉻,FN2也適合銅上鉻。
CN02用于絕緣體上的有色金屬覆層。

MiniTest涂層測厚儀探頭圖示
FN1.6
0~1600μm,φ5mm
兩用測頭,可測銅鐵基體上的非磁性覆層與有色金屬 基體上的絕緣覆層
量程低端分辨率很高(0.1μm)

FN1.6P
0~1600μm,φ30mm
兩用測頭, 特別適合測粉末狀的覆層厚度


F05
0~500μm,φ3mm
磁性測頭,適于測量細小鋼鐵物體的薄覆層,如金屬鍍層,氧化層等
量程低端分辨宰很高(0.1μm)

F1.6
0~1600μm,φ5mm
磁性測頭
量程低端分辨率很高(0.1μm)

F3
0~3000μm,φ5mm
磁性測頭
可用于較厚的覆層

F1.6/90
0~1600μm,φ5mm
90度磁性測頭
尤其適合于在管內壁測量
量程低端分辨率很高(0.1μm)

F10
0~10mm,φ20mm
適合測量鋼結構(如水箱、管道等)上的防腐覆層,如玻璃、塑膠、混凝土等


F20
0~20mm,φ40mm
適合測量鋼結構(如水箱、管道等)上的防腐覆層,如玻璃、塑膠、混凝土等

F50
0~50mm,φ300mm
適合測量鋼結構(如水箱、管道等)上的防腐覆層的隔音覆層

N02
0~200μm,φ2mm
非磁性測頭,尤其適合測量有色金屬基體上的氧化層等很薄的絕緣覆層
量程低端分辨率很高(0.1μm)

N0.8Cr
0~80μm,φ2mm
適用于測量銅、鋁、黃銅上的極薄鍍鉻層

N1.6
0~1600μm,φ2mm
非磁性測頭,適于測量有色金屬基體上的較薄的絕緣覆層
量程低端分辨率很高(0.1μm)

N1.6/90
0~1600μm,φ5mm
磁性測頭,適于測量較薄的絕緣覆層
尤其適合在管內壁測量
量程低端分辨率很高(0.1μm)

N10
0~10mm,φ50mm
非磁性測頭,適于測量較厚的絕緣覆層,如橡膠玻璃等

N20
0~20mm,φ70mm
非磁性測頭,適于測量較厚的絕緣覆層,如橡膠玻璃等

N100
0~100mm,200mm
非磁性測頭,適于測量較厚的絕緣覆層,如橡膠玻璃等
CN02
10~200μm,φ7mm
用于測量絕緣材料上的有色金屬覆層,如覆銅板

 

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