供應輻射抗擾度測試系統

GTEM小室構成的輻射敏感度（抗擾度）測試系統*IEC61000-4-3（GB/T17626.3），為小型電子產品的輻射電磁場干擾敏感性提供有力的測試依據。GTEM小室構成的輻射敏感度（抗擾度）測試系統測試系統構成：主要由標準信號源、功率放大器、場強監視器、計算機及操控軟件和GTEM室體組成。

供應輻射抗擾度測試系統

系統介紹

用GTEM（吉赫茲橫電磁波）進行電磁兼容性測試是近年來電磁兼容領域發展的一項新的測量技術。由于GTEM的寬頻帶特性（從直流到微波），低造價（只相當電波暗室造價的百分之幾），既可用于電磁輻射敏感度試驗（EMS試驗。有時也稱抗擾度試驗），又可用于電磁輻射試驗（EMI試驗）而且所用儀器（相對在電波暗室中做試驗來說）有配置簡單，成本便宜和可用于快速和自動測試的特點，所以越來越受到和國內有關人士的重視。其中尤以對待小設備的測試，GTEM小室的測量方案是性能價格比的測試方案。

需要重點指出的是：目前IEC61000-4-3標準中已在附錄中取消GTEM室的內容，轉而通過單列IEC61000-4-20標準重新描述GTEM小室技術，目前在電表標準中引用的為IEC61000-4-3標準，即意味著zui終檢測認定須在暗室內測試環境下評定，但GTEM室在射頻輻射抗擾度測試項目中對小體積設備測試的應用測試結果的*性已為很多檢測機構認同，加之其擁有暗室測量系統*的高性價比，使更多企業能夠進行這項試驗，所以目前還是許多企業進行射頻輻射抗擾度測試的*方案。

試驗目的

為評價電氣和電子設備的抗射頻輻射電子磁場干擾的能力建立一個共同的依據。

 輻射抗擾度測試系統GTEM小室

隨著技術的發展，電磁環境的惡化，測試頻率已從早期的27～500MHz擴展到今天的80～1000MHz。其中高頻段的擴展與的普遍使用有關。如它的工作頻率已擴展到900 MHz（甚至更高）。對80 MHz的下部分將由GB/T17626.6-1998（對應的標準為IEC61000-4-6：1995）以傳導的方式進行補充。

GTEM室常用試驗儀器

信號發生器（注意其帶寬，要求調幅功能，能自動掃描，在掃描點上的留駐時間可控，信號輸出幅度可控）；

功率放大器（注意其帶寬，另外zui大輸出功率應與試驗的場強相匹配）；

天線（輻射天線）

場強測試探頭；

場強測試與記錄設備。

為完成自動測量，還要增加計算機相應的控制軟件。

 試驗的嚴酷度等級

分三級：        

    1級 1V/m

    2級 3V/m

    3級 10V/m

    其中：1級為 低輻射環境，如離電臺電視臺1km以上附近只有小功率在使用。2級為中等輻射環境，如不在近于1m處使用小功率，是典型的 商業環境。3級是較為嚴酷的輻射環境，如在1m左右處使用；或附近有大功率發射機在工作，為典型的工業環境。

GTEM小室

    GTEM小室是在橫電磁波室（TEM室）的基礎上發展起來一種新型電磁兼容測試設備。后者本身具有結構封閉，不向外輻射電磁能量，不影響操作人員健康和不干擾其它儀器的工作；由于結構封閉的特點，亦不受外界環境及干擾的影響；工作頻率較寬，可從DC～1000MHz，甚至更高；場強范圍大，從強場（如300V/m）至弱場（如10μV/m）均可測試，且場值控制容易。

吉赫芝橫電磁中心處的電場強度為

E＝PoRcd ( V/m)

式中，E：  電磁場強度的垂直分量

      Po： 饋至赫芝橫電磁波室的射頻功率

      Rc： 吉赫芝橫電磁波室的特性阻抗

      D：  芯板與上下板之間的垂直距離

從式中可見較小赫芝橫電磁波室的芯板與上、下底板間的尺寸，可獲得較大的場強值。

用GTEM小室構成輻射敏感度（抗擾度）測試系統。

用GTEM小室構成的輻射敏感度（抗擾度）測試系統如圖2所示，主要由信號源、功率放大器、場強監視器、計算機及軟件和GTEM小室組成。

主要性能指標：

頻率范圍：     DC－18GHz（系統配置頻率根據儀器指標確定）

輸入阻抗：50Ω±5Ω（典型值：50Ω±2Ω）

電壓駐波比：≤1.75（典型值：≤1.5）

zui大輸入功率： 1000W

電場強度范圍：0.01-200V/m（根據輸入功率大小）

同軸接頭：L16（N型）

zui大外型尺寸：約6m×3m×2m（6米小室）

4m×2.5m×2m（4米小室）

GTEM室射頻輻射抗擾度測試系統：

技術指標： 頻率范圍：2GHz

zui大電場強度范圍：>500V/m

zui大外型尺寸：約6m×3.2m×2.1m

zui小精準測試試品尺寸：20cm×20cm×20cm(長×寬×高)

zui大試品高度：40cm-125cm