目錄:北京北廣精儀儀器設備有限公司>>介電常數介質損耗因數測試儀>>陶瓷介電常數介質損耗儀>> GDAT-AASTMD150介電常數測試儀
ASTMD150介電常數測試儀a．消耗功率：約25W；b．凈重：約7kg；倘要得到精確結果，則線圈的分布電容應加在C1之內，并應使主調電容作多次偏調，然后取其平均讀數。
ASTMD150介電常數測試儀“Q”的定義
Q表是根據串聯(lián)諧振原理設計，以諧振電壓的比值來定位Q值。
“Q”表示元件或系統(tǒng)的“品質因數”，其物理含義是在一個振蕩周期內貯存的能量與損耗的能量之比。對于電抗元件(電感或電容)來說，即在測試頻率上呈現的電抗與電阻之比。Q值量程自動/手動控制方式選擇/8按鍵，按此鍵后，顯示屏第四行左部出現D對應的指示：AUTO（自動），MAN（手動）；先按12鍵后,再按此鍵，功能為數字鍵8。數字鍵9，先按12鍵后有效。數字鍵0，先按12鍵后有效。小數點鍵, 先按12鍵后有效。倍頻率法。
| 電感No | 電感量 | 準確度% | 測試頻率 | Q值±10% | 分布電容約略值 |
| 1 | 0.1μH | 0.05μH | 25MHz | 245 | 5pF |
| 2 | 0.5μH | 0.05μH | 12MHz | 227 | 6pF |
| 3 | 2.5μH | ±5 | 12MHz | 193 | 7pF |
| 4 | 10μH | ±5 | 4.5MHz | 217 | 8pF |
| 5 | 50μH | ±5 | 2MHz | 188 | 9pF |
| 6 | 250μH | ±5 | 1MHz | 192 | 10pF |
| 7 | 1mH | ±5 | 400kHz | 192 | 10pF |
| 8 | 5mH | ±5 | 400kHz | 111 | 10pF |
| 9 | 25mH | ±5 | 100kHz | 91 | 10pF |
| 10 | 0.05μH | ±5 | 100MHz | 220 | 5pF |
| 11 | 250mH | ±5 | 100kHz | 50 | 15pF |
如線圈的分布電容較大，可用此法作近似測試。
將被測線圈按在“Lx””接線柱上，調調諧電容器到最大電容數值，調訊號源頻率到諧振，令諧振時頻率和指示調諧電容分別是f1和C1。然后將訊號源頻率調到f2 (f2=n f1)，再調電容器度盤到諧振點，此時電容讀數為C2，根據下式即可求出分布電容量（測量時微調電容到零）電容器容量的測量
A. 在測量范圍內的小于主調電容量的電容器的測量
a．選一個適當的諧振電感接到“Lx”的兩端；
b．將調諧電容器調到最大值附近，令這個電容是C1，如未知電容是小數值的，C1應調到較小電容值附近，以便達到盡可能高的分辨率；
c．調訊號源的頻率，使測試回路諧振，令諧振器Q的讀數為Q1；
d．將被測電容接在“Cx”兩端，調節(jié)調諧電容器，使測試電路再諧振，令新的調諧電容值為C2和指示Q值為Q2。
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