【簡單介紹】
【詳細說明】
Leitz Reference BX 高精度葉片與玻璃測量解決方案
Leitz Reference BX作為一個高速掃描解決方案，勝任一些具有行業特點的專 業測量任務，例如各種渦輪葉片和風扇葉片的非接觸式檢測或電子行業中
智能手機玻璃的檢測。 它的設計使其能在不影響測量精度的的情況下，以很大的效率來測量復雜形狀的工件。甚至可以測量傳統檢測方式無法駕馭的非
常苛刻的材料，例如碳纖維，玻璃或陶瓷組件。
該系統集成了4軸聯動掃描功能，非接觸式白光傳感器和傳感器自動更換系統，同時該系統還可支持超 高精度的接觸式傳感器來測量公差要求嚴苛或非接觸
式難以接近的特征。
該機型主要有兩個應用方向：葉片檢測和玻璃檢測。
由于配置了四軸掃描功能，使得Leitz Reference BX 坐標測量機 (CMM) 在一次測量任務中保證高精度的同時，可將潛在的測量時間縮短百分之五十。測頭水
平式安裝，對于葉片或者3D玻璃測量，不需要用戶以增加旋轉測座或者降低精度為代價，即可測量所有特征。
提升葉片檢測的效率
在一個檢測周期內，接觸式測量和非接觸式測量各司其職，Precitec S3光學傳感器用于高速測量翼型，而HP-S-X1C固定掃描測頭用于精 確檢查榫頭剖面。利用專 業的葉片檢測模塊QUINDOS Blade可以簡化葉片前緣半徑、切線、葉型厚度、葉型、葉根和平均外弧線的測量，提高檢測效率。
透明材料厚度測量
屏幕設計和技術的快速發展增強了智能手機的用戶體驗，但也對質量控制提出了挑戰，傳統的2D影像測量方式已不能滿足帶有復雜曲面并且公差要求嚴格的3D玻璃檢測。Precitec S3共聚焦白光傳感器，可以輕松勝任此類傳統測量方式無法解決的測量任務，并且保護敏 感表面免受接觸式測量引發的潛在劃傷風險。此外，白光技術可以用于評估材料厚度。利用QUINDOS軟件，測量結果可以顯示為點云、2D剖面或3D色差圖。
技術特點 ?
•花崗石臺面，集成燕尾槽
•傳感器使用水平安裝方式，便于工件立式測量
•三軸空氣軸承預應力設置，保證機械框架穩定性
•高分辨率光柵系統
•基于光柵系統和工件溫度，自動進行溫度補償，以彌補溫度變化帶來的精度變化
•Leitz Precitec S3 光學傳感器，其共聚焦白光技術非常適用于復雜幾何形狀和透明材質的檢測，在保證精度的情況下，對效率提升明顯。另外，可以用于評估扁平和彎曲透明材料的厚度。
•HP-S-X1C固定式掃描測頭為系統提供了超 高精度和出 色的探測能力
•標配SENMATION SX全自動傳感器更換系統，可實現Precitec S3和HP-S-X1C兩種測量模式自 由切換
•集成內置式轉臺，應用四軸連續掃描技術，提高測量可達性和測量效率，檢測過程無需調整工件姿態和減少更換測針頻次，檢測時間大大縮短。
•配置主動式氣浮減振系統
產品參數：
| 型號 | X向行程 [mm] | Y向行程 [mm] | Z向行程 [mm] |
| 7.7.5 | 700 | 700 | 500 |
| 12.9.8 | 1200 | 900 | 770 |
| 15.12.10 | 1500 | 1200 | 1170 |
請輸入產品關鍵字：
