Verios 5 XHR SEM超高分辨掃描電鏡
Verios 5 XHR SEM掃描電鏡
Verios 5 XHR SEM掃描電鏡采用好的材料對比度在全 1 keV-30 keV 能量范圍內提供亞納米級分辨率。自動化和易用性使任何經驗水平的用戶都能使用該性能。
體驗 Verios XHR SEM掃描電鏡所提供的優勢：
- 使用行業*的電子源單色器UC+實現高分辨率納米材料成像，可在 1-30 kV 范圍內實現亞納米性能。
- 對電子束敏感材料性能好，具有 20 eV 著陸能量和高靈敏度電子鏡筒內和透鏡下檢測器以及信號過濾，可實現在低劑量條件下獲取超高分辨率和高信噪比圖像。
- 憑借采用 SmartAlign 和 FLASH 技術的 Elstar 電子束鏡筒，可大大縮短各種經驗水平的用戶獲得納米級信息的時間。
- 借助 ConstantPower 透鏡、靜電掃描和兩種高精度壓電陶瓷載物臺的選擇，獲得一致的測量結果。
- 配備大腔室，配件的靈活性高。
- 使用 Thermo Scientific AutoScript 4 軟件（可選配的基于 Python 的應用程序編程界面）實現儀器無人自動化 SEM 操作。
Verios 5 XHR SEM掃描電鏡的主要特點
SmartAlign 技術
使用 SmartAlign 技術時，用戶無需對電子束鏡筒進行任何對中，這不僅能大限度地減少維護，還能提高電鏡生產率。
亞納米級分辨率
Elstar Schottky 電子源單色器（UC+）FESEM 技術和性能，實現從 1 至 30 keV 的亞納米級分辨率。
低劑量操作和較佳對比度選擇
結合了*的高靈敏度、鏡筒內 & 透鏡下探測器和信號過濾功能 可實現低劑量操作和較佳襯度選擇。
無人照看的 SEM 運行
借助 AutoScript 4 軟件，可選配基于 Python 的應用程序編程界面 (API)。
創新的電子光學系統
包括 Thermo Scientific 獲得的 UC+（單色器）電子槍、ConstantPower 透鏡和靜電掃描，可實現準確穩定的成像。
一致的測量結果
Verios 掃描電鏡非常適合實驗室計量應用，能夠在高放大倍數下校準經 NIST 認證的標準品。
輕松訪問射束著陸能量
低至 20 eV 也可實現用于表面表征的高分辨率。
大腔室
可從兩種高準確穩定的壓電陶瓷驅動樣品臺中進行選擇。
