介電常數介質損耗儀（實驗室用）應用

電阻器、電容器、電感器都是電路的基本元件。電路基本元件參數是電路測試的基本內容之一。電路參數測試儀器是基本測試儀器。由于電路元件的工作頻率范圍不同，測試的方法和測試的儀器也有所不同。對于工作在低頻電路中的元件大多采用電橋法和萬用電橋；對于工作在高頻電路中的元件，大多采用諧振法和Q表等。
一、諧振法測元件參數的基本原理
諧振測試法是根據諧振回路的諧振特性建立起來的測電路元件參數的方法。諧振測試法的基本電路如圖。它是由LC諧振回路、高頻振蕩電路和諧振指示電路三部分組成。振蕩電路提供高頻信號，它與諧振回路之間的藕合程度應足夠弱，使反映到諧振回路中的阻抗小到可以忽略不計。諧振指示器用來判別回路是否處于諧振狀態，它可以用并聯在回路兩端的電壓表或串聯在回路中的電流表擔任。同樣要求諧振指示電路的內阻對回路的影響小到可以忽略不計。

（一）電容量的測試
諧振法測電容器有直接法和替代法兩種。
1．直接法
用直接法測試電容量的電路與圖的基本電路相同。選用一適當的標準電感L，與被測電容Cx組成諧振電路，調節高頻振蕩電路的頻率，當電壓表的讀數達最大，即諧振回路達到串聯諧振狀態。這時振蕩電路輸出信號的頻率f 將等于測量回路的固有頻率fo，即
由此可求得電容Cx值，
式中電容的單位是F（法），頻率的單位是Hz（赫），電感的單位是H（亨）。若上述各量的單位分別用pF，MHz，uH，則Cx式可寫為：
由于諧振頻率fo可由振蕩電路的度盤讀得，電感線圈的電感量是已知的，即可由上式計算被測電容量Cx。
由直接法測得的電容量是有誤差的，因為它的測試結果中包括了線圈的分布電容和引線電容，為了消除這些誤差，宜改用替代法。
2．替代法
用替代法測試電容量有并聯替代法和串聯替代法兩種。串聯和并聯替代法，采用替代原理，必須進行兩次測試。被測元件接入前使電路諧振；被測元件接入已調諧好的電路后會使電路失諧，然后重新調整電路中的標準元件，以補償（替代）被測元件造成的失諧。測量結果需計算后方能得到。這是一種間接測量的方法。
（1）并聯替代法
用并聯替代法測試電容量的電路如圖8-2所示，進行測試時，首先將標準可變電容器放在電容量甚大的刻度位置C_S1上，調節振蕩電路的頻率使串聯諧振回路諧振。然后將被測電容器接在Cx接線柱上，與標準可變電容器并聯，振蕩電路保持原來的頻率不變，減小標準可變電容器的電容量到C_S2，使串聯諧振回路恢復諧振。在這種情況下，
C_S1= C_S2+Cx
即可求得被測電容Cx的值為:
Cx= C_S1- C_S2

顯然，并聯替代法只能測電容量小于標準可變電容器的變化范圍的電容器。由于通常標準可變電容器的電容量變化范圍有限，例如一個能從500pF變化到40pF的電容器的電容量變化范圍為460pF。按照上述測試方法，只能測試電容量小于460pF的電容。當被測電容量大于標準可變電容器的電容量變化范圍時，則可根據被測電容量的估算數值選擇一個適當容量的電容器作輔助元件，再用上述方法進行測試。選擇輔助電容器時，必須使已知輔助電容器的電容量與標準可變電容器的變化范圍之和大于被測電容器的電容量。例如用電容量變化范圍為460pF的標準可變電容器來測被測電容量約為680pF的電容時，必須選擇一個電容量大于220pF的已知電容作輔助元件。
測試時，首先把已知電容接在Cx接線柱上，標準可變電容器放在電容量所在的刻度位置C_S1上，調節振蕩電路的頻率使串聯諧振回路諧振。然后拆去Cx接線柱上的已知電容，接上被測電容。振蕩電路保持原來的頻率不變。減小標準可變電容器的電容量到C_S2,使串聯諧振回路恢復諧振。在這種情況下
C_S1+C_已知=C_S2+Cx
即可求得被測電容Cx的值為:
Cx=C_Sl-C_S2 +C_已知
（2）串聯替代法
測電容量大于標準可變電容器容量變化范圍的另一種方法是串聯替代法。串聯替代法測電容的電路如圖8-3所示。進行測試時，首先將標準可變電容放在電容量甚小的刻度位置C_S1上，調節振蕩電路的頻率使串聯諧振回路諧振。然后將被測電容串聯在諧振回路中，振蕩電路保持原來的頻率不變，增加標準可變電容量到C_S2，使串聯諧振回路恢復諧振。在這種情況下
C_S1=l/(1/C_S2+1/Cx)
即可測得被測電容Cx的值為

Cx=(C_S1•C_S2)(C_S2-C_S1)

（二）電感量的測試
1．直接法
在圖若選用已知標準電容Cs和被測電感Lx組成諧振回路，按測試電容的同樣方法，調節振蕩電路的輸出頻率，使諧振回路達到諧振狀態，由式 可得被測電感Lx的值為
式中電容的單位是法，頻率的單位是赫，電感的單位是亨。若上述各量的單位分別用pF，MHz，uH，則上式可寫為 。上式中fo可由振蕩電路的度盤讀得，Cs可由標準可變電容器的度盤讀得，由上式即可計算得被測電感量Lx。
實際上按諧振法設置的測試儀器，測電感時為了能直接讀數，通常是在某些的頻率點上進行測試。由式 可知，當fo為定值時，Lx與Cs成反比例關系，所以，在標準可變電容器Cs的刻度盤上附加直讀電感的刻度，就可以直接讀出被測電感Lx值，而無需計算。
用直接法測得的電感量是有誤差的，因為實際上式 中的電容值還包括線圈的分布電容和引線電容，而標準可變電容的刻度中不包括這兩項電容值，使測試結果為正誤差，即測試值大于實際值。若要消除誤差，應采用替代法。
2．替代法
與測電容一樣，也有并聯替代法和串聯替代法兩種。測小電感時用圖所示的串聯替代法，測大電感時用圖的并聯替代法。由于具體的測試方法與測電容的替代法相仿，故不再贅述。

介電常數介質損耗測試儀

（三）品質因數（Q值）的測試
利用諧振法測回路的品質因數（Q值），可采用電容變化法或頻率變化法，兩種測試方法均采用圖的電路。
電容變化法是變化調諧回路中的電容量，使回路發生一定程度的失諧，從而求得回路的品質因數。根據回路諧振時可變電容器Cs的讀數Cso和回路兩次失諧（諧振指示器指示下降到70.7%）時可變電容器Cs的讀數C_l、C₂，即可按下式計算品質因數
Q=2Cso / (C₂-C₁)
頻率變化法是變化高頻振蕩電路的振蕩頻率，使回路發生一定程度的失諧，從而求得回路的品質因素。根據回路諧振時振蕩電路的頻率數fo和回路兩次失諧（諧振指示的指示下降到70.7%）時振蕩電路的頻率讀數f₁和f₂，可計算品質因數Q=fo / (f₂-f₁)。
用電容變化法和頻率變化法測回路的品質因數Q值，須經過幾步操作和計算。
根據諧振原理制成的一種能直接讀出線圈Q值的測試儀器，稱之為Q表。它是測高頻電路元件參數的重要儀器。Q表除測線圈Q值的基本用途以外，因為其中包含有諧振測試法所需用的各項設備，所以還可以用它進行其他項目的諧振法測試。
Q表的基本原理圖如圖。由圖可見，被測線圈（視在參量為Lx與Rx）與Q表內部的一只標準可變電容器Cs組成一個串聯諧振回路；并在標準可變電容器的兩端跨接一只標準可變電容器Cs組成一個串聯諧振回路；并在標準可變電容器的兩端跨接一只輸入阻抗很高的電子電壓表，作為諧振指示器；加在標準電阻R₁及R₂上的高頻電壓，由一個作監視器的電子電壓表測試，用以監視引入串聯諧振回路的高頻電壓U₁的大小。
調節可變高頻振蕩電路的頻率或標準可變電容器的電容，使串聯諧振回路諧振，此時并聯在標準可變電容器上的電子電壓表的指示最大。按照諧振回路的原理，最大電壓
U₂和輸入回路的電壓U₁之間關系U₂=QU₁，可得:
Q=U₂/U₁
由此測得的Q值是串聯諧振回路總的品質因數。但由于在一般情況下標準可變電容器Cs的損耗與線圈的損耗相比可以忽略，電子電壓表的輸入電阻極大，由其所引入回路中的損耗可以忽略，輸入電壓U₁的內部電阻與線圈的有效串聯電阻Rx相比也可以忽略，所以串聯諧振回路的品質因數Q可以認為是被測線圈的品質因數Qx。
若將U₁的大小保持一定，則U₂即比例于被測線圈的Q值，因此如將電子電壓表的度盤直接按Q值刻度，在測試時便可以直接讀出Q值。
由U₂=QU₁這一基本關系式可見，因為U₂和Q之間的比例常數為U₁，改變U₁的大小可以改變Q表量程。U₁愈小，則同一U₂值所代表的Q值愈大。所以Q表的量程能借助U_l的減小而擴大。某些產品Q表就是通過減小U_l值來擴展Q值讀數倍率的。
為了使Q表除測試線圈Q值之外能進行其他諧振法測試，通常將其內部的高頻振蕩電路和可變標準電容均加以正確的定度。這樣便可由振蕩電路的頻率度盤和頻段開關所示出的讀數，知道測試所用振蕩頻率的準確數值；由可變標準電容器度盤所示出的讀數，知道測試時標準電容器的準確數值。為了微調和讀出微小電容變化值的變化值的需要，一般Q表內部的標準電容器除一只容量較大（如500pF）的可調電容器外，還包括一個與之并聯的、度盤直接按微小電容量（如±3pF）刻度的較小的電容器。
Q表按其應用的頻率范圍不同，有低頻Q表、高頻Q表和超高頻Q表等不同類型。不同頻率的Q表的基本原理都同上所述。

介電常數介質損耗測試儀

二、高頻Q表的組成
Q表可以用來測量高頻電感或諧振回路的Q值、電感器的電感量及其分布電容量、電容器的電容量及其損耗角、電工材料的高頻介質損耗、高頻回路的有效并聯電阻及串聯電阻、傳輸線特性阻抗等。
產品Q表的原理功能方框圖如圖。由圖可見，Q表包括高頻振蕩電路、定位指示電路、諧振指示電路、測試回路和電源供給電路5個部分。現分別介紹如下。

1． 高頻振蕩電路
通常是一個電感3點式振蕩電路。一般產生頻率為50KHz～50MHz的高頻振蕩信號。分若干個頻段，由筒形波段開關（儀器面板的頻段開關）控制變換，每個頻段的頻率由雙聯可變電容器（儀器面板的頻率度盤）連續調節。高頻振蕩電路的輸出信號通過電感耦合線圈饋送到寬帶低阻分壓器（由1.96Ω、0.04Ω組成）。借助調節電位器（儀器面板上的定位粗調和定位細調旋鈕）改變高頻振蕩管的相關直流電壓，可以控制一定大小的高頻信號電壓，加到寬頻帶低阻分壓器上，此高頻信號通過電阻分壓后加入串聯諧振回路。

2．定位指示電路
加在寬頻帶低阻分壓器上的高頻信號電壓由作定位指示用的電子電壓表測量，用以監視引入串聯諧振回路的高頻電壓的大小。當調節高頻振蕩電路的輸出信號電壓，使定位指示器的指示在定位線“Q×1”上時，寬帶低阻分壓器的輸入電壓為500mV，通過分壓，從0.04Ω電阻上取出的10mV的高頻信號電壓，加到測試回路（串聯諧振回路）上。分壓電阻是一個0.04Ω的小電阻，以實現低阻抗的高頻信號源，減小電源內阻對測量電路的影響。作為定位指示用的電子電壓表的零點調節（即起始電流補償）由一只電位器（儀器面板上的定位校正旋鈕）擔當。

3．測試回路
測試回路中有兩個標準可變電容器，一個是主調電容器（2×250pF），另一個是微調電容器（5～13pF）；有兩對接線柱：“Lx”和“Cx”，“Lx”接被測線圈或輔助線圈（測量電容時）；“Cx”接被測電容等。由被測線圈（或輔助線圈）與標準電容器（或包括被測電容器）組成一個串聯諧振回路。當調節標準可變電容器的電容量或振蕩電路的頻率，使串聯諧振回路諧振時，作諧振指示器的電子電壓表指示最大。

4．諧振指示電路
諧振指示電路是一個作諧振指示和Q值讀數的電子電壓表，它并接在串聯諧振回路中的可變電容器的兩端。當串聯諧振回路達到諧振狀態時，電容器兩端的電壓達最大值，電子電壓表指示達最大。由于回路諧振時標準可變電容器兩端的電壓的是測試電路的輸入電壓值U_l的Q倍，即U₂=QU_l，Q=U₂/U₁，這里的Q值是串聯諧振回路的品質因數，但可以認為是串聯諧振回路線圈的品質因數。在U₁為定值時（當定位指示器指示在“Q×1”位置時），測試電路輸入電壓U_l等于10mV，所以Q值正比于U₂值（假使U₂為0.lV，則Q為10；假使U₂為0.5V，則Q為50；假使U₂為lV，則Q為100……），因此可將作為諧振指示器用的電子電壓表的表度盤直接按Q值刻度。這樣刻度以后，在測量時便可以直接讀出Q值。一般測量Q值的量程分三檔：10～100，20～300，50～600，由電子電壓表的靈敏度轉換開關（儀器面板上的Q值范圍開關）選擇。作為諧振指示器的電子電壓表的零點調節（即起始零點補償），由一只電位器（儀器面板上的Q值零位校正旋鈕）擔當。

5．電源供給電路
通常采用磁飽和穩壓器和穩壓管雙重穩壓，保證儀器在電源電壓變化較大的情況下正常工作。

三、使用方法
Q表雖然型號不少。但是它們除頻率范圍、測量范圍、測量精度等不全一樣外，基本使用方法是相同的。現以ZJD-C型高頻Q表為例加以介紹。
ZJD-C型高頻Q表面板上所具有的控制裝置有頻段選擇開關、振蕩頻率度盤、定位指示表頭、定位零點校正旋鈕、定位粗調和定位細調旋鈕、Q表指示表頭、Q值零位校正旋鈕、Q值范圍開關、主調電容度盤、微調電容度盤、測量接線柱、電源開關和指示燈。如圖的Q表面板圖，現分別介紹如下。
1．頻段選擇開關 是高頻振蕩電路中的波段開關，分成七個頻段。
2．振蕩頻率度盤 作每個指示頻段內的頻率連續調節用。刻度盤上有與頻段選擇開關配合使用的若干條頻率刻度，以選擇所需頻率。
3．定位指示表頭 是定位指示電路中的直流微安計CB₁，用作監視引入測試電路的高頻電壓的大小。一般使用時調節定位粗調和定位細調旋鈕，使表頭指針指示在定位刻度的Q×1上，才能從Q值指示表上直讀Q值。
4．當定位粗調旋鈕置于起始位置（逆時針旋到底）時，調節定位零位校正旋鈕，使定位指示表的指針在零位。
5．定位粗調和定位細調旋鈕 是高頻振蕩電路中的兩個電位器。調節定位粗調和定位細調旋鈕，可改變高頻振蕩電路輸出電壓大小，使定位指示表指在刻度“Q×1”上。當定位粗調旋鈕置于起始位置時，高頻振蕩電路輸出為零（此時與定位細調旋鈕所在位置無關）。
6．Q值指示表頭 是諧振指示電路中的直流微安計CB₂，作諧振指示和Q值讀數用。表頭上有三條刻度：0～100，0～300，0～600。根據Q值范圍開關所在位置，讀表頭上相應的刻度。
7．Q值零位校正旋鈕 是諧振指示電路中的電位器。在測試回路遠離諧振點的情況下，調節Q值零位校正旋鈕，使Q值指示表的指針在零位。
8．Q值范圍開關 是諧振指示電路中的波段開關，作諧振指示時的靈敏度變換和Q值指示的量程變換用，有三檔位置：10～100，20～300，50～600，進行測量時，應根據被測元件Q值的大小選擇適宜檔級。
9．主調電容度盤 是測試回路中標準可變電容器。度盤上有C和L兩種刻度。C刻度線在度盤的上方（以對準上方的讀數指示紅線為讀數值），測量電容量時用。L刻度在度盤的下方（以對準下方的讀數指示紅線為讀數值），測量電感量時用。
10．微調電容度盤 是測試回路中的標準可變電容器，有-3pF～0～+3pF刻度，作微調之用，通常該度盤置于零位，否則測試時須將微調電容器度盤的讀數加到主調電容度盤的讀數上去。
11．測量接線柱 是測試回路中的接線柱，有兩對，位于儀器的頂部。“Lx”接線柱是接被測線圈的，若測量電容時，此接線柱須接輔助線圈。“Cx”接線柱是測量電容等時接被測電容等的。
12．電源開關和指示燈


（二）測試步驟與技巧

1．測試準備
進行各項測試時均應做好本項使用工作。
（1）將儀器安裝在水平的工作臺上，校正定位指示電表的機械零點。
（2）將定位粗調旋鈕向逆時針方向旋到底，定位零位校正和Q值零位校正旋鈕置于中間附近位置，微調電容度盤調到零。
（3）接通電源（指示燈亮），預熱30分鐘以上，待儀器穩定后進行測試。

2．高頻線圈Q值測量（基本測量法）
將被測線圈接在儀器頂部的“Lx”接線柱上（接觸必須良好）；調節頻段選擇和頻率度盤，使之到規定的測量頻率點上；估計被測件的Q值，將Q值范圍開關置于適當的檔級上；將定位粗調旋鈕向逆時針方向旋到底（定位微調旋鈕位置任意）。調節定位零位校正旋鈕，使定位表指示為零；調節定位粗調、定位細調旋鈕，使定位表指示在“Q×1”上（在回路調諧后，若定位表指示偏離定位點，則應重新調節定位粗調和定位細調旋鈕，使指針仍在定位點上）；調節主調電容度盤，使之遠離諧振點（使Q值表指示最小）；調節Q值零位校正旋鈕，使Q表指示為零（100，300，600 三檔零位在同一點上）；再調節主調電容和微調電容度盤，使測試回路諧振，即Q值表指示最大，此時Q值表頭指示值便為測量回路的Q值。因為測量回路中標準電容器的損耗極小，所以測量回路的Q值就近似等于被測電感的Q值。
注意：當工作頻率高于10MHz時，若回路諧振，定位表可能有微小偏轉，此時應調節定位細調旋鈕定位表仍指示“Q×1”上，并以調節后的Q值表的讀數為準。
由于被測線圈本身分布電容的影響，以上所測得的Q值和實際值略有相差，如果所進行的測量作為Q值的大概比較，那就不需加以修正。當需獲得較精確的Q值時，則應按后面所述的方法測出線圈的分布電容量Co，然后按照下式修正：
Q=Q_m（C₁+Co）/C₁
式中Q_m為測量值，C₁為回路諧振時主調電容度盤與微調電容的讀數之和。如回路諧振時C₁讀數很大，Co只占很小比數，則測得值和修正后的實際值相差很小。

3．高頻線圈電感量的測量
Q表在測量高頻線圈的Q值時，能夠知道與被測高頻線圈相諧振時的電容量C值和頻率fo值。按照公式 可計算出被測高頻線圈的電感量。實際上測量高頻線圈電感值時，為了能夠直讀，通常是在某些頻率上進行電感測量的。在頻率已經的情況下，Lx與C成反比例的關系，所以在標準可變電容器的度盤上可附加直讀電感的刻度，以免除計算的麻煩。
（1）將被測線圈接在儀器頂部“Lx”接線柱上（接觸必須良好）。
（2）根據被測線圈的大約電感值，在面板上的“電感、倍率、頻率”對照表中選擇一標準頻率。然后通過頻段選擇開關和頻率度盤，將高頻信號調到這一標準頻率上。
（3）使被測電感在此標準頻率上諧振。
（4）微調電容度盤置于“0”上，調節主調電容度盤，使測試回路諧振。則主調電容度盤對應的電感數乘以對照表上所指示的倍率就是被測線圈的近似電感值。
“電感、倍率、頻率”對照表見表8-1所示。對照表的使用方法舉例如下：如被測的高頻線圈的大約電感值為50μH，根據表查得被測電感量在10μH～100μH范圍內，測試頻率為2.52MHz，電感量按主調電容度盤上的L讀數乘以倍率10。
（5）要測得準確的電感數，必須先測得電感的分布電容量Co（分布電容的具體測法見后面所述）。然后照上述步驟讀得約略電感值后，再將主調電容度盤的刻度調在“C₁+Co”的位置上，這時度盤的電感讀數乘以對照表上所指示的倍率即為線圈的較精確的電感量。
（6）在被測電感小于10μH時，按上述方法測得的電感值，還應減去儀器中測試回路本身的剩余電感Lo（Lo近似等于0.07μH）。

實例：已知被測線圈的分布電容值Co=4pF，儀器剩余電感值Lo=0.07μH，按“電感、倍率、頻率”對照表選擇的標準頻率f=7.95MHz。微調電容度盤置于“0”上，調節主調電容度盤，使測試回路諧振，測得C_l=196pF。隨后再調整主調電容度盤到C₁+Co=196+4=200（pF）處。從對邊L刻度線上讀得L值為4μH。被測線圈的實際電感值為L-Lo=4-0.07=3.39（uH）。

4．高頻線圈分布電容Co的測量
兩倍頻率法
將被測線圈接在儀器頂部的“Lx”接線柱上，將主調電容度盤調到C₁上，通常C₁以200pF較為適宜。調節頻段選擇開關和頻率度盤，找出諧振頻率f₁。然后將頻率調至f₂（f₂=<:chmetcnv unitname="F" sourcevalue="2" hasspace="False" negative="False" numbertype="1" tcsc="0" w:st="on">2f₁），再調節主調電容度盤至諧振點C₂。根據下式可求得分布電容Co的值
Co=（C₁<:chmetcnv unitname="C" sourcevalue="4" hasspace="False" negative="True" numbertype="1" tcsc="0" w:st="on">-4C₂）/3。
自然頻率法
此法可獲得較準確結果。
（1）將被測高頻線圈接在“Lx”接線柱上。
（2）將微調電容度盤置于“0”位置上，主調電容度盤調C₁，C₁取400pF。
（3）調節高頻振蕩器的頻率，使測試回路諧振，諧振頻率為f₁。
（4）取下被測線圈，換上一個能在主調電容度盤調節范圍內和<:chmetcnv unitname="F" sourcevalue="10" hasspace="False" negative="False" numbertype="1" tcsc="0" w:st="on">10f₁頻率諧振的標準電感。
（5）將高頻振蕩器調到約<:chmetcnv unitname="F" sourcevalue="10" hasspace="False" negative="False" numbertype="1" tcsc="0" w:st="on">10f₁的頻率上，調節主調電容度盤，使測試回路諧振。
（6）將被測線圈接在“Cx”接線柱上，調節主調電容度盤，使測試回路諧振，此時看電容度盤讀數是增加還是減小，如果增加則應將信號頻率調高些，如是減小則將信號頻率調低些。
（7）再取下被測線圈，調節主調電容度盤，使測試回路諧振。
（8）重復（6）、（7）直到某一頻率，被測線圈接上或不接上“Cx”柱均不改變諧振點，這一頻率即為被測線圈的自然諧振頻率f₂，線圈的分布電容：Co=C₁(f₁ /f₂)²。式中電容量單位用pF；頻率單位用MHz。

5．電容器容量的測量
（1） 小于460pF電容器的測量
通常采用并聯替代法測量電容量小于460pF電容量，具體測量步驟如下。
① 取一個電感量大于lmH的輔助線圈，接在“Lx”接線柱上，與標準可變電容器組成串聯諧振回路。
② 將微調電容度盤調到“0”位，主調電容度盤調到較大電容量C₁上。
③ 定位粗調旋鈕置于起始零位時，調節定位零位校正旋鈕，使定位表示于零。調節定位粗調和定位細調旋鈕，使定位表指示在“Q×1”位置附近。
④ 調節高頻振蕩頻率，使遠離諧振點（即Q值表頭指示最小），調節Q值零位校正旋鈕，使Q值表指示于零。
⑤ 調節頻段選擇開關和頻率度盤，使測試回路諧振。
⑥ 將被測電容器接在“Cx”接線柱上，與標準可變電容器并聯，保持高頻振蕩頻率不變，調節（減小）主調電容度盤。使測試回路恢復諧振，若此時主調電容器度盤的讀數為C₂，則C₁=C₂+Cx。所以被測電容器的電容量為Cx=C₁-C₂。
（2）大于460pF電容量的測量
通常標準可變電容器的電容變化范圍有限，一般Q表的主調電容度盤的電容變化范圍為460pF（從500pF變化到40pF）。故按上述的并聯替代法只能測量電容量小于460pF的電容，若要測量大于460pF的電容時，可借助一只已知電容量的電容器作輔助元件，再用并聯替代法進行測量或采用串聯替代法進行測量。具體測量在測試原理中已介紹。

6．電容器損耗因數的測量
下面介紹電容量不超過460pF的電容器損耗因數的方法。
（1）調節頻段選擇開關和頻率度盤到規定的測量頻率點。
（2）選擇本身Q值較高、電感量適當的輔助電感，接在“Lx“接線柱上，與標準可變電容器組成串聯諧振回路。
（3）定位粗調旋鈕置于起始零位時，調節定位零位校正旋鈕，使定位表指示于零位，調節定位粗調和定位細調旋鈕，使定位表指在“Q×1”上。
（4）調節主調電容度盤到遠離諧振點處（使Q值表指示最小），再調節Q值零位校正旋鈕使Q表示于零位。
（5）調節主調電容度盤，使測試回路諧振。讀得Q值為Q₁，電容讀數為C₁。
（6）將被測電容器接在“Cx”接線柱上，與標準可變電容器并聯。調節電容度盤使測試回路恢復諧振。讀得Q值為Q₂，電容讀數為C₂。根據下式便可算得電容器損耗正切角δ，
tgδ=1/Q=[(Q₁-Q₂) / (Q₁·Q₂)][(C₁+Co) / (C₁-Co)]
式中Co為輔助電感的分布電容量。
電容器的有效并聯電阻為Rp
Rp=[(Q₁·Q₂) / (Q₁-Q₂)]·{1/[2πf / (C₁+Co)]}
式中Rp是有效并聯電阻，單位為Ω；f是諧振頻率，單位Hz；C₁和Co單位pF。如果f以kHz作單位，C₁和Co以pF為單位，則上式寫成
Rp=[(Q₁·Q₂) / (Q₁-Q₂)]·[（159·10⁶）f (C₁+Co)]

7．大電阻的測量（在規定頻率下的有效電阻）
（1）按第6項（1）～（5）操作，其中C₁值要盡量小些（即選用適當的電感器），以提高測量靈敏度。
（2）將被測件接在“Cx”接線柱，再調節電容度盤，使測試回路恢復諧振，此時Q值讀數為Q₂，電容讀數為C₂，有效電阻值即為
Rp=[(Q₁·Q₂) / (Q₁-Q₂)]·[1/2πf (C₁+Co)]
此電的分布電容Cp=C₁-C₂。如C₁小于Co，則此電阻在這個測試頻率上具有電感性，它的電感量為Lp=1/[(2πf)² (C₂-C₁)]，此處Lp單位uH；C₁、C₂單位pF；f單位kHz。
8．低阻抗的測量
低阻值電阻、大容量的電容和小電感等低阻抗都可以且串聯法來進行測量。
（1）按第6項（1）～（5）操作進行。
（2）將被測件和標準電感串聯后再接入“Lx”接線柱，保持高頻振蕩頻率不變。并重調電容度盤，使測試回路恢復諧振。讀出C₂和Q₂值，就可以按下式算得有效電阻值
Rs={(1/2πf)[1 / (C₂Q₂)-1 / (C₁Q₁)]}×10⁶
此處Rs單位Ω；C₁、C₂單位為pF；f單位kHz。

（三）使用注意事項
1．被測件和測量回路的接線柱間的接線應盡量短和足夠粗，并且要接觸良好可靠，以減少因接線的電阻和分布參數所帶來的測量誤差。
2．被測件不要直接擱在儀器頂部，必要時可用低損耗的絕緣材料如聚苯乙烯做成的襯墊物襯墊。
3．不要把手靠近被測件，以免人體感應影響而造成測量誤差。有屏蔽的被測件，屏蔽罩應連接在低電位端的接線柱上。
4．估計被測件的Q值，并將Q值范圍開關置于適當的檔級上。在不了解被測件的Q值時，Q值范圍開關應置于高檔。定位粗調旋鈕應保持適當位置，特別在變換高頻振蕩頻率檔級時，要避免定位表超過滿度引起損壞。
5．儀器應保持清潔干燥，特別是測試回路部分。

膠粘劑/固態膠水介電常數介質損耗測試儀

測試準備:
（1）將儀器安裝在水平的工作臺上，校正定位指示電表的機械零點。
（2）將定位粗調旋鈕向逆時針方向旋到底，定位零位校正和Q值零位校正旋鈕置于中間附近位置，微調電容度盤調到零。
（3）接通電源（指示燈亮），預熱30分鐘以上，待儀器穩定后進行測試。

高頻線圈電感量的測量。
Q表在測量高頻線圈的Q值時，能夠知道與被測高頻線圈相諧振時的電容量C值和頻率fo值。按照公式 可計算出被測高頻線圈的電感量。實際上測量高頻線圈電感值時，為了能夠直讀，通常是在某些頻率上進行電感測量的。在頻率已經的情況下，Lx與C成反比例的關系，所以在標準可變電容器的度盤上可附加直讀電感的刻度，以免除計算的麻煩。
（1）將被測線圈接在儀器頂部“Lx”接線柱上（接觸必須良好）。
（2）根據被測線圈的大約電感值，在面板上的“電感、倍率、頻率”對照表中選擇一標準頻率。然后通過頻段選擇開關和頻率度盤，將高頻信號調到這一標準頻率上。
（3）使被測電感在此標準頻率上諧振。
（4）微調電容度盤置于“0”上，調節主調電容度盤，使測試回路諧振。則主調電容度盤對應的電感數乘以對照表上所指示的倍率就是被測線圈的近似電感值。
“電感、倍率、頻率”對照表見表1所示。對照表的使用方法舉例如下：如被測的高頻線圈的大約電感值為50μH，根據表1所示查得被測電感量在10μH～100μH范圍內，測試頻率為2.52MHz，電感量按主調電容度盤上的L讀數乘以倍率10。
（5）要測得準確的電感數，必須先測得電感的分布電容量Co（分布電容的具體測法見后面所述）。然后照上述步驟讀得約略電感值后，再將主調電容度盤的刻度調在“C1+Co”的位置上，這時度盤的電感讀數乘以對照表上所指示的倍率即為線圈的較精確的電感量。
（6）在被測電感小于10μH時，按上述方法測得的電感值，還應減去儀器中測試回路本身的剩余電感Lo（Lo近似等于0.07μH）。

電容器容量的測量

（1）小于460pF電容器的測量
通常采用并聯替代法測量電容量小于460pF電容量，具體測量步驟如下。
① 取一個電感量大于lmH的輔助線圈，接在“Lx”接線柱上，與標準可變電容器組成串聯諧振回路。
② 將微調電容度盤調到“0”位，主調電容度盤調到較大電容量C1上。
③ 定位粗調旋鈕置于起始零位時，調節定位零位校正旋鈕，使定位表示于零。調節定位粗調和定位細調旋鈕，使定位表指示在“Q×1”位置附近。
④ 調節高頻振蕩頻率，使遠離諧振點（即Q值表頭指示最小），調節Q值零位校正旋鈕，使Q值表指示于零。
⑤ 調節頻段選擇開關和頻率度盤，使測試回路諧振。
⑥ 將被測電容器接在“Cx”接線柱上，與標準可變電容器并聯，保持高頻振蕩頻率不變，調節（減小）主調電容度盤。使測試回路恢復諧振，若此時主調電容器度盤的讀數為C2，則C1=C2+Cx。所以被測電容器的電容量為Cx=C1-C2。
（2）大于460pF電容量的測量
通常標準可變電容器的電容變化范圍有限，一般Q表的主調電容度盤的電容變化范圍為460pF（從500pF變化到40pF）。故按上述的并聯替代法只能測量電容量小于460pF的電容，若要測量大于460pF的電容時，可借助一只已知電容量的電容器作輔助元件，再用并聯替代法進行測量或采用串聯替代法進行測量。