智能制造網(wǎng)>產(chǎn)品庫>儀器儀表>物性測試儀器>試驗(yàn)機(jī)>>SENTECH-激光橢偏儀 - (SE 400adv)

SENTECH-激光橢偏儀 - (SE 400adv)

參考價	面議

參考價

面議

具體成交價以合同協(xié)議為準(zhǔn)

公司名稱上海德竹芯源科技有限公司
品牌
型號SE400adv
所在地上海
廠商性質(zhì)其他
更新時間2024/5/15 9:05:10
訪問次數(shù)106

產(chǎn)品標(biāo)簽:

在線詢價收藏產(chǎn)品點(diǎn)擊查看電話

聯(lián)系我們時請說明是智能制造網(wǎng) 上看到的信息，謝謝!

索取相關(guān)資料

公司介紹主營產(chǎn)品

上海德竹芯源科技有限公司是一家專注于功率器件、光電器件、射頻器件、量子器件、MEMS傳感器領(lǐng)域的設(shè)備銷售、系統(tǒng)集成、設(shè)備國產(chǎn)化的公司。主要為高校、研究所、中試量產(chǎn)線及晶圓FAB廠提供半導(dǎo)體工藝設(shè)備、檢測設(shè)備、封裝設(shè)備、測試設(shè)備。目前公司已成為國內(nèi)少數(shù)幾家專業(yè)提供半導(dǎo)體工藝、檢測、封裝、測試整體解決方案的企業(yè)。公司主要成員為復(fù)旦大學(xué)、上海微系統(tǒng)所等半導(dǎo)體相關(guān)專業(yè)博士，擁有一支經(jīng)驗(yàn)豐富、技術(shù)過硬的團(tuán)隊(duì)。能夠出色地完成售前售中、售后的服務(wù)。目前公司已與眾多國際半導(dǎo)體設(shè)備企業(yè)建立了良好的合作關(guān)系(如:EVG、SAWNATEC、SENTECH、PICOSUN、SYSKEY、 Mavemn Panalyrical、PHL-CHINA、TEMPRESS,ROHDE&SCHWARZ、MPI等)，致力于根據(jù)用戶的科研方向和量產(chǎn)的器件類別提供相應(yīng)的全套設(shè)備選型和工藝整體解決方案。

展開顯示更多內(nèi)容

無線電綜合測試儀

產(chǎn)品簡介在線詢價

激光橢偏儀 SE 400adv 測量透明薄膜的厚度和折射率指數(shù)，具有測量速度、亞埃級別的厚度精度和折射率測定的精度。多角度測量允許使用激光橢偏儀 SE 400adv 表征吸收膜特征。

SENTECH-激光橢偏儀 - (SE 400adv) 產(chǎn)品信息

亞埃精度

● 穩(wěn)定的氦氖激光器保證了 0.1 埃精度的超薄單層薄膜厚度測量。

擴(kuò)展激光橢偏儀的極限

● 性能優(yōu)異的多角度手動角度計和角度精度*的激光橢偏儀允許測量單層薄膜和層疊膜的折射率、消光系數(shù)和膜厚。

高速測量

● 激光橢偏儀 SE 400adv 的高速測量速度使得用戶可以監(jiān)控單層薄膜的生長和終點(diǎn)檢測，或做樣品均勻性的自動掃描。

● 激光橢偏儀 SE 400adv 可用于從可選擇的、應(yīng)用特定的入射角度表征單層薄膜和基片。自動準(zhǔn)直透鏡確保在大多數(shù)平坦反射表面的吸收或透明襯底上進(jìn)行準(zhǔn)確測量。多角度測量的集成支持(40°—90°，5° 步進(jìn))，可用于確定層疊的厚度、折射率和消光系數(shù)。為了補(bǔ)償激光橢偏測量中厚度測量的模糊性，厚度測量中也采用了多角度測量。

● 激光橢偏儀 SE 400adv，用于超薄單層薄膜的厚度測量。小型臺式儀器由橢偏儀光學(xué)部件、角度計、樣品臺、自動準(zhǔn)直透鏡、氦氖激光光源和檢測單元組成。激光橢偏儀 SE 400adv 的選項(xiàng)支持在微電子、光伏、數(shù)據(jù)存儲、顯示技術(shù)、生命科學(xué)、金屬加工等領(lǐng)域的應(yīng)用。