熱阻測試儀_陜西天士立ST-HeatX_平替進口。產品符合JESD 51-1、JESD 51-14標準,可輸出結構函數,用于DIODE、IGBT、MOSFET、HEMT、GTO、功率IC等多種類型功率器件及其模組的_熱阻抗_熱特性_瞬態熱阻_穩態熱阻_Kcurve_Rth_Zth_熱結構分析
ST-HeatX_半導體熱特性熱阻抗測試儀系統
ST-HeatX_半導體熱特性熱阻抗測試儀系統的產品特點
超高精度:溫度(T;)分辨率0.01℃℃,1MHz變頻采樣:
技術:第三代瞬態熱測試技術,可輸出結構函數進行熱結構分析
行業:具備4路高速高精度采集模塊,采樣速度,精度均達到行業D尖水平
架構:采用B/S架構控制系統、可遠程對設備進行狀態監控和控制,實現智能化;
瞬態監測:連續采集加熱和冷卻區的結溫變化,同步采集溫度監控點數據;
NPS技術:同步采集溫度監控點(NTC/PTC)和結溫數據,形成數據關系矩陣。
ST-HeatX_半導體熱特性熱阻抗測試儀系統的應用場景
器件結殼熱阻測量ST-HeatX_半導體熱特性熱阻抗測試儀系統
散熱結構分析ST-HeatX_半導體熱特性熱阻抗測試儀系統
Die-Attach熱阻測量ST-HeatX_半導體熱特性熱阻抗測試儀系統
DBC/AMB基本熱特性測量ST-HeatX_半導體熱特性熱阻抗測試儀系統
界面熱阻測量與分析ST-HeatX_半導體熱特性熱阻抗測試儀系統
PCB板級散熱結構分析ST-HeatX_半導體熱特性熱阻抗測試儀系統
散熱器性能測量ST-HeatX_半導體熱特性熱阻抗測試儀系統
TIM材料熱導率測試ST-HeatX_半導體熱特性熱阻抗測試儀系統
熱缺陷檢測ST-HeatX_半導體熱特性熱阻抗測試儀系統
ST-HeatX_半導體熱特性熱阻抗測試儀系統的“功能指標”
ST-HeatX_半導體熱特性熱阻抗測試儀系統的“溫度系數標定”
ST-HeatX_半導體熱特性熱阻抗測試儀系統的“瞬態熱測試”
四、數據處理與輸出
4.1、“數據處理與輸出”ST-HeatX_半導體熱特性熱阻抗測試儀系統
4.2、“熱模型抽取”ST-HeatX_半導體熱特性熱阻抗測試儀系統
4.3、“脈沖熱阻”ST-HeatX_半導體熱特性熱阻抗測試儀系統
4.4、“安全工作區”ST-HeatX_半導體熱特性熱阻抗測試儀系統
ST-HeatX迷你版(10A5V1C1P版本)