BOE腐蝕機(jī)是半導(dǎo)體制造工藝中用于去除硅片表面氧化硼(B?O?)或二氧化硅(SiO?)薄膜的專用設(shè)備,廣泛應(yīng)用于集成電路、有源區(qū)光刻、MEMS器件等制程環(huán)節(jié)。其核心功能是通過化學(xué)腐蝕液(通常為氫氟酸與氟化物的緩沖溶液,簡稱BOE溶液)對硅片表面的氧化層進(jìn)行精準(zhǔn)、均勻的腐蝕,同時(shí)避免對硅基底或其他材料的損傷。
1. 設(shè)備結(jié)構(gòu)與材質(zhì)
槽體設(shè)計(jì):采用耐腐蝕性的材料(如聚四氟乙烯、聚丙烯或PFA涂層),可抵抗強(qiáng)酸性腐蝕液長期浸泡,確保設(shè)備壽命。
加熱與溫控系統(tǒng):配備高精度加熱模塊和溫度傳感器,實(shí)時(shí)監(jiān)控并調(diào)節(jié)腐蝕液溫度(通常控制在40℃±2℃),以優(yōu)化反應(yīng)速率和均勻性。
液體循環(huán)系統(tǒng):通過溢流槽設(shè)計(jì)和循環(huán)泵強(qiáng)制驅(qū)動(dòng)腐蝕液流動(dòng),避免局部濃度差異導(dǎo)致的腐蝕不均;部分機(jī)型集成氮?dú)夤呐莨δ埽瑴p少氣泡附著對硅片表面的影響。
安全防護(hù):具備防腐蝕密封蓋、緊急排液裝置及泄漏檢測傳感器,確保操作安全性。
2. 核心功能與技術(shù)特點(diǎn)
腐蝕原理:利用HF與氟化物(如NH?F或KHF?)的緩沖溶液,在特定溫度下與氧化硅反應(yīng)生成可溶性絡(luò)合物,實(shí)現(xiàn)選擇性腐蝕。
緩沖劑可穩(wěn)定pH值,減緩HF消耗,延長溶液使用壽命。
均勻性控制:通過動(dòng)態(tài)液體流動(dòng)(如噴淋或循環(huán))、硅片垂直運(yùn)動(dòng)(手動(dòng)或自動(dòng)提拉)以及超聲波輔助(部分型號),消除氣泡并確保腐蝕液與硅片全面接觸,減少邊緣侵蝕或中心殘留。
參數(shù)可調(diào)性:支持調(diào)節(jié)HF濃度(通常5%-49%)、溶液溫度(20℃-50℃)、腐蝕時(shí)間(秒級至分鐘級)及硅片運(yùn)動(dòng)速度,適應(yīng)不同厚度氧化層(5nm-數(shù)百納米)的腐蝕需求。
3. 操作流程與優(yōu)勢
操作步驟:
配置BOE腐蝕液并注入槽體,設(shè)定溫度與循環(huán)參數(shù);
人工或機(jī)械手臂將硅片垂直浸入腐蝕液;
通過上下提動(dòng)硅片(頻率可調(diào))促進(jìn)酸液更新,避免氣泡滯留;
腐蝕完成后取出硅片,用去離子水沖洗并干燥。
優(yōu)勢:
高效性:單片處理時(shí)間通常為1-5分鐘,適合小批量或研發(fā)場景;
低成本:相比干法刻蝕設(shè)備,BOE腐蝕機(jī)結(jié)構(gòu)簡單、維護(hù)便捷,初期投入低;
選擇性好:對氧化硅腐蝕速率高(約0.1-1μm/min),而對硅基底幾乎無損傷。
4. 應(yīng)用領(lǐng)域與局限性
典型應(yīng)用:
集成電路制造中的有源區(qū)光刻膠去除;
MEMS器件釋放前的犧牲層腐蝕;
功率器件場氧層開口制備。
局限性:
無法實(shí)現(xiàn)圖形化腐蝕(需結(jié)合光刻掩膜);
腐蝕速率受硅片表面形貌影響,深槽或高深寬比結(jié)構(gòu)可能存在均勻性問題;
廢液處理成本較高,需配套中和與回收系統(tǒng)。
5. 技術(shù)參數(shù)與選型建議
關(guān)鍵參數(shù):
腐蝕槽尺寸:φ100mm-φ300mm(兼容不同硅片尺寸);
溫度控制精度:±0.5℃;
腐蝕液流量:5-20L/min(可調(diào));
硅片運(yùn)動(dòng)方式:手動(dòng)提拉、電動(dòng)升降或旋轉(zhuǎn)抖動(dòng)。
選型要點(diǎn):
根據(jù)產(chǎn)能需求選擇手動(dòng)型或自動(dòng)化機(jī)型(如集成機(jī)械臂的批量腐蝕系統(tǒng));
針對特殊工藝(如低溫腐蝕或超薄氧化層)選擇帶制冷功能的型號;
優(yōu)先配備超聲波或氮?dú)夤呐莨δ芤蕴嵘鶆蛐浴?/p>
BOE腐蝕機(jī)以其操作簡單、成本低廉的特點(diǎn),成為半導(dǎo)體實(shí)驗(yàn)室和中小批量生產(chǎn)中的工具,尤其適用于對氧化層均勻性和邊緣平整度要求較高的場景。