硬件*性:
      符合zui嚴格的輻射防護標準的同時更具備簡易的樣品放置和耗材更換模式（采用滑蓋設計）。探頭指標高，性能好，壽命長；全新32位軟硬件系統，工作可靠，效率高；配備高清晰的攝像定位系統，測量更直觀、方便、快捷；配置固定樣品用多軸向夾具。

激發源：Mo靶的X光管 風冷 （*）

測量點尺寸：1～2mm

樣品室: 單獨的樣品室
軟件：   菜單式軟件，帶硬件參數調整和數據評估及計算
計算機：選擇配置
探測器：  固定式半導體封氣正比計數器微處理器控制的探測器和讀出電路
其它規格：
        電壓:交流220V/50Hz
      zui大處尺寸: 500*400*200mm /重量: 17公斤
技術指標
     分析范圍：10%～99.99%     測量時間：自適應
     測量精度： ± 0.2%
     測試環境：常溫常態
     分析元素：Au 、Ag 、pt 、Pb、Rh 、Ru 、Cu、Zn 、Ni 、Cd
     X射線源：X射線光管
     高壓器：4-50Kv
     分析：多通道模擬
     操作系統:Windows2000/Me/XP

 

 鍍層測量：
     鍍層厚度范圍<30µm
     可測量元素種類：Au 、Ag 、Pt 、Pd 、Rh 、Ru、 Cu 、Zn 、Ni 、Cd
     zui大測量層數：5層
     測量精度：0.03µm
標準配置:
     單樣品腔      放大電路       高低壓電源       X光管         計數器

    便于攜帶，，適用于首飾回收行業等經常需要攜帶操作的單位和個人。

該攝像定位系統除讓首飾檢測更加直觀、X熒光更集中于目標位置外，還可以將首飾被檢測到的精確位置的圖片信息，連同計算報告一起打印出來。

承諾，本公司各款測金儀價格，低于市場上任何一款同類產品的價格。本產品采用*技術成果，提高了性能，節省了成本。

能夠測量：金Au（包括K金），鉑金Pt，白銀Ag，鈀金Pd，銠Rh，銅Cu，鋅Zn，鎳Ni，鎢W等金屬元素。

1～3秒可以對首飾做定性判斷，30秒檢測出精確結果。zui高精確度可以達到0.2%，風冷散熱循環系統，穩定，重現指標高。

產品實行國家儀器儀表“三包”,一年保修,三月包換，終生維護,終生免費軟件升級。

廠家負責人：尤 ＴＥＬ：①⑧⑨②④⑥②⑥⑥④Ｏ