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西安天光測控技術有限公司
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ST-SP2010 功率器件靜態參數測試系統
用于測試 IGBTs,MOSFETs, Diode,靜態直流參數
3000V/2000A
產品系列
晶體管圖示儀
半導體分立器件測試篩選系統
靜態參數測試儀（包括IGEs/VGE(th)/VCEsat/VF/ICEs/VCEs等）
動態參數測試儀（包括Turn_ON&OFF_L/Qrr_FRD/Qg/Rg/UIS/SC/RBSOA等）
環境老化測試（包括 HTRB/HTGB/H3TRB/Surge等）
熱特性測試（包括 PC/TC/Rth/Zth/Kcurve等）
可測試 Si/SiC/GaN 材料的IGBTs/MOSFETs/DIODEs/BJTs/SCRs等功率器件
ST-SP2010功率器件靜態參數測試系統
用于測試 IGBTs,MOSFETs, Diode,靜態直流參數
3000V/2000A
?產品簡述
ST-SPX系列產品是主要針對半導體功率器件的靜態參數測試而開發設計。通過DUT適配器的轉換，可實現對各種封裝形式的 IGBTs，MOSFETs，DIODEs 等半導體器件的靜態電參數測試，包括器件、模塊以及DBC襯板和晶圓。
設備融入了自動化及智能化的設計理念及功能，支持批量上下料并進行全自動測試。用于規模化量產可節省人力并提高測試產能，適合產線量測以及器件研發設計階段的實驗室測試，設備由主控計算機操控，測試數據自動上傳以及保存。測試能力包含輸出特性、轉移特性、擊穿特性、漏電流、閾值電壓、二極管壓降等。產品功能及輸出功率進行了模塊化設計，滿足用戶潛在的后期需求，測試電壓電流可擴展至10KV/10KA，變溫測試支持常溫到200℃。
?測試能力
?產品特點
? 產品以2000A為一個電流模塊,以1000V為一個電壓模塊，可升級到10KA/10KV.
? 可以連接探針臺做 wafer / chip 測試，也可以安裝夾具及適配器做模塊測試
? 針對不同結構的封裝外觀，通過更換 DUT適配器即可
? 可進行室溫~200℃變溫測試,也可實現子單元測試功能
? 測試軟件具有實驗模式和生產模式,測試數據可存儲為Excel文件
? 柵極電阻可任意調整
? 系統測試性能穩定,適合大規模生產測試應用（24hr 工作）
? 支持半自動和全自動測試
? 采用品牌工控機，具有抗電磁*力強，排風量大等特點
? 安全穩定（PLC 對設備的工作狀態進行全程實時監控并與硬件進行互鎖）
? 自動化，單機測試時只需手動放置DUT，也可連接機械選件實現自動化測試線
? 智能化，通過主控計算機進行操控及數據編輯，測試結果自動保存及上傳局域網
? 安全性，防爆，防觸電，防燙傷，短路保護等多重保護措施，確保操作人員、設備、數據及樣品安全。
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