西安天光測(cè)控技術(shù)有限公司
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詳細(xì)摘要： 半導(dǎo)體特性測(cè)試儀（ST-DC2000_X 系列） 可測(cè)試 19大類27分類 的大中小功率的半導(dǎo)體分立器件及模塊的靜態(tài)直流參數(shù)，（測(cè)試范圍包括Si（硅）/SiC（...
產(chǎn)品型號(hào)：ST-DC2000_X 系列所在地：西安市更新時(shí)間：2023-09-15 在線留言
詳細(xì)摘要： 天光測(cè)控ST-DP_6020電參數(shù)測(cè)試儀可用于多種封裝形式的IGBT測(cè)試，還可以測(cè)量大功率二極管 、IGBT模塊，大功率IGBT、大功率雙極型晶體管等器件的V-...
產(chǎn)品型號(hào)：ST-DP_6020所在地：西安市更新時(shí)間：2023-09-15 在線留言
詳細(xì)摘要： IGBT動(dòng)態(tài)參數(shù)測(cè)試系統(tǒng) IGBT測(cè)試儀IGBT動(dòng)態(tài)參數(shù)測(cè)試儀是西安市天光測(cè)控技術(shù)有限公司研發(fā)生產(chǎn)的IGBT測(cè)試設(shè)備，天光測(cè)控的IGBT測(cè)試系統(tǒng)廣泛應(yīng)用于現(xiàn)代中...
產(chǎn)品型號(hào)：ST-DP_X（1500V600A）所在地：西安市更新時(shí)間：2023-09-15 在線留言
詳細(xì)摘要： 瑞士萊姆IGBT測(cè)試儀 短路測(cè)試IGBT是廣泛應(yīng)用于現(xiàn)代中、大功率變換器中的主流半導(dǎo)體開(kāi)關(guān)器件，其開(kāi)關(guān)特性決定裝置的開(kāi)關(guān)損耗、功率密度、器件應(yīng)力以及電磁兼容性，...
產(chǎn)品型號(hào)：ST-DP_3020所在地：西安市更新時(shí)間：2023-09-15 在線留言
詳細(xì)摘要： 大功率IGBT動(dòng)態(tài)測(cè)試系統(tǒng)用于測(cè)試 Diode, IGBTs,MOSFETs等分立器件動(dòng)態(tài)交流參數(shù)測(cè)試1500V/600A，短路電流2500A
產(chǎn)品型號(hào)：ST-DP_X（1500V600A）所在地：西安市更新時(shí)間：2023-09-15 在線留言
詳細(xì)摘要： 功率循環(huán)測(cè)試系統(tǒng)是一套動(dòng)態(tài)綜合測(cè)試系統(tǒng)、測(cè)試參數(shù)多、精度高、具有過(guò)流、過(guò)熱、水壓不足等保護(hù)功能。具有連續(xù)工作的特點(diǎn)，測(cè)試程序由計(jì)算機(jī)控制，程序設(shè)定完成后可自動(dòng)測(cè)...
產(chǎn)品型號(hào)：ST-Thermal_PCmin所在地：西安市更新時(shí)間：2023-09-15 在線留言
詳細(xì)摘要： 高溫反偏 高溫柵偏 HTRB/HTGB：用于各種封裝的的二、三極管、橋堆、mosfet和可控硅等分立器件進(jìn)行高溫反偏高溫柵偏試驗(yàn)（htrb/htgb）、高 溫漏...
產(chǎn)品型號(hào)：ST-HTGB_X所在地：西安市更新時(shí)間：2023-09-15 在線留言
詳細(xì)摘要： 天光測(cè)控研究所大功率浪涌測(cè)試系統(tǒng) ，設(shè)備可輸出17.7mS、80kA的電流，對(duì)被測(cè)器件進(jìn)行浪涌電流試驗(yàn)；
產(chǎn)品型號(hào)：ST-Surge1500A所在地：西安市更新時(shí)間：2023-09-15 在線留言
詳細(xì)摘要： 天光測(cè)控IGBT動(dòng)態(tài)參數(shù)測(cè)試儀生產(chǎn)廠商主要針對(duì)IGBT及MOS管的測(cè)試儀，適用于芯片設(shè)計(jì)，產(chǎn)線封裝測(cè)試及新能源汽車，風(fēng)力發(fā)電，地鐵交通等領(lǐng)域的大功率器件及模塊測(cè)...
產(chǎn)品型號(hào)：TRd 2015所在地：西安市更新時(shí)間：2023-09-15 在線留言
詳細(xì)摘要： ST-SP2010 功率器件靜態(tài)參數(shù)測(cè)試系統(tǒng)用于測(cè)試 IGBTs,MOSFETs, Diode,靜態(tài)直流參數(shù)3000V/2000A
產(chǎn)品型號(hào)：ST-SP_2010所在地：西安市更新時(shí)間：2023-09-15 在線留言
詳細(xì)摘要： 穩(wěn)態(tài)熱阻測(cè)試儀ST-Thermal_Zth功率器件熱特性測(cè)試系統(tǒng)測(cè)試 Si / SiC / GaN 材料的 IGBTs / DIODEs / MOSFETs /...
產(chǎn)品型號(hào)：ST-Thermal_Zth所在地：西安市更新時(shí)間：2023-09-15 在線留言
詳細(xì)摘要： 瞬熱阻測(cè)試儀ST-Thermal_X功率器件熱特性測(cè)試系統(tǒng)測(cè)試 Si / SiC / GaN 材料的 IGBTs / DIODEs / MOSFETs / BJ...
產(chǎn)品型號(hào)：ST-Thermal_Zth所在地：西安市更新時(shí)間：2023-09-15 在線留言您感興趣的產(chǎn)品PRODUCTS YOU ARE INTERESTED IN
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