高分辨透射電子顯微鏡（TEM）

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更新時間：2022-11-22 11:23:58瀏覽次數：345次

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產品簡介

儀器照片儀器名稱高分辨透射電子顯微鏡儀器型號JEM-2010生產廠家日本電子公司儀器簡介透射電鏡是以電子束透過樣品經過聚焦與放大后所產生的物像，投射到熒光屏上或照相底片上進行觀察

詳細介紹

儀器照片
儀器名稱	高分辨透射電子顯微鏡
儀器型號	JEM-2010
生產廠家	日本電子公司
儀器簡介	透射電鏡是以電子束透過樣品經過聚焦與放大后所產生的物像，投射到熒光屏上或照相底片上進行觀察。該設備包含有TEM﹑EDS﹑NBD﹑CBD工作模式，可觀察材料的質厚襯度像，衍射襯度像和高分辨電子顯微像；可獲得不同取向的電子衍射花樣；可進行微區成分分析。
技術參數	加速電壓：80-200kV 電子槍：LaB6晶體能譜儀：Link-Inca超薄窗口能譜儀放大倍率：50-150萬倍分辨率：點分辨率≤0.23nm，線分辨率=0.14nm	加速電壓穩定性：≤2ppm 物鏡電流穩定性：≤1ppm 物鏡色差系數：≤1.4mm　　物鏡球差系數：≤1.0mm 束斑尺寸:TEM mode: 優于20nm　　 EDS/NBD/CBD mode: 優于1.0nm
送樣要求	建議提供文獻圖片或者以前做過的圖片，如果沒有，檢測要求需詳細填寫。樣品可提供20張左右圖片：即篩選出三個比較好的區域，每個區域提供3-4張不同放大倍數滿足測試要求的圖片，對于找不到符合測試要求的區域的樣品，我們將會多拍一些區域以證明樣品的真實情況！寄送樣品質量大于20 mg。