摘要:賽普拉斯半導體公司日前宣布,其具有錯誤校正代碼(ECC)的16Mb低功耗異步SRAM已開始出樣。全新MoBL(MoreBatteryLife,更久電池續航)SRAM的片上ECC功能可使之具有zui高水準的數據可靠性,而無需另外的錯誤校正芯片,從而簡化設計并節省電路板空間。該MoBL器件可延長工業、軍事、通訊、數據處理、醫療和消費電子等應用領域里手持設備的電池續航時間。
背景輻射造成的軟錯誤可損壞存儲內容,丟失重要數據。賽普拉斯新型異步SRAM中的硬件ECC模塊可在線執行所有錯誤校正動作,無需用戶干預,因而具有業界*的軟錯誤率(SER)性能,錯誤率僅有0.1FIT/Mb(1個FIT相當于器件每工作十億小時發生一個錯誤)。這些新器件與現有的異步低功耗SRAM管腳兼容,客戶不必更改電路板設計即可提高系統可靠性。16MbMoBL異步SRAM還具有可選的錯誤指示信號,可指示單位(Single-Bit)錯誤的發生和校正。
賽普拉斯全新低功耗異步SRAM開始出樣
賽普拉斯異步SRAM事業部總監SunilThamaran說:“自從我們去年推出帶ECC的快速SRAM以來,客戶反響非常強烈。在這一系列中增加MoBL器件,可使更多的應用受益于我們的片上ECC技術。賽普拉斯致力于不斷開發SRAM新技術,更好地為客戶服務,鞏固我們毫無爭議的市場。”
賽普拉斯的16MbMoBL異步SRAM具有業界標準的x8,x16和x32配置。器件具有多種工作電壓(1.8V,3V和5V),工作溫度范圍為-40℃至+85℃(工業級)和-40℃至+125℃(汽車級)。
供貨情況
這些全新SRAM目前已有工業溫度范圍的樣片,預計2014年11月份量產。這些器件以符合RoHS標準的48-pinTSOPI、48-ballVFBGA、119-ballBGA方式封裝。
背景輻射造成的軟錯誤可損壞存儲內容,丟失重要數據。賽普拉斯新型異步SRAM中的硬件ECC模塊可在線執行所有錯誤校正動作,無需用戶干預,因而具有業界*的軟錯誤率(SER)性能,錯誤率僅有0.1FIT/Mb(1個FIT相當于器件每工作十億小時發生一個錯誤)。這些新器件與現有的異步低功耗SRAM管腳兼容,客戶不必更改電路板設計即可提高系統可靠性。16MbMoBL異步SRAM還具有可選的錯誤指示信號,可指示單位(Single-Bit)錯誤的發生和校正。
賽普拉斯全新低功耗異步SRAM開始出樣
賽普拉斯異步SRAM事業部總監SunilThamaran說:“自從我們去年推出帶ECC的快速SRAM以來,客戶反響非常強烈。在這一系列中增加MoBL器件,可使更多的應用受益于我們的片上ECC技術。賽普拉斯致力于不斷開發SRAM新技術,更好地為客戶服務,鞏固我們毫無爭議的市場。”
賽普拉斯的16MbMoBL異步SRAM具有業界標準的x8,x16和x32配置。器件具有多種工作電壓(1.8V,3V和5V),工作溫度范圍為-40℃至+85℃(工業級)和-40℃至+125℃(汽車級)。
供貨情況
這些全新SRAM目前已有工業溫度范圍的樣片,預計2014年11月份量產。這些器件以符合RoHS標準的48-pinTSOPI、48-ballVFBGA、119-ballBGA方式封裝。
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