進制程半導體的需求持續增加得益于電動車、車用電子與傳感器、5G、穿戴裝置、AI、云端儲存運算..等新技術的發展,半導體制程技術演進,也使得組件尺寸越做越小,組件也開始出現可靠度--翹曲、脫層、裂痕等問題,對于半導體的可靠度測試、故障分析及壽命推估的嚴苛要求也有所提升,需要進行氣候環境模擬試驗,其中一項測試是溫度冷熱沖擊測試,昊極科技提供可靠的冷熱沖擊試驗箱。
JEDEC是半導體業界的一個標準化組織,制定固態電子方面的工業標準(半導體、記憶體),成立超過50年是一個性的組織,他所制訂的標準是很多產業都能夠接手與采納的。
JESD22-A106B 溫度沖擊測試,推薦設備:冷熱沖擊試驗箱。
進行此溫度沖擊測試,是為了確定半導體元器件,對于突然暴露在高低溫條件下的抵抗力及影響,溫度沖擊測試其溫變率過快并非模擬真正實際使用情況,其目的是施加更嚴苛的應力于半導體元器件上,加速其脆弱點的破壞,找出產品可能的潛在性缺陷。
冷熱沖擊試驗箱是 IC 芯片和小型電子產品測試的理想選擇。設計由兩個獨立控制的腔室構成。一間房是熱的,另一間是冷的。產品在熱室和冷室之間快速轉移,從而對樣品產生溫度沖擊,以幫助發現電子元件和產品組裝中的產品缺陷。
昊極科技研發的冷熱沖擊試驗箱符合各種測試規范,包括 Mil-Std 810、Mil-Std 883、IEC 60068-2-14、JEDEC 和各種商業測試標準。

憑借LOW GWP(變暖潛勢)技術,昊極科技的冷熱沖擊試驗箱可提供高達40%的節能和R-449A制冷劑,可讓您的測試面向未來。
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