HP4191A HP4287A
主要目的
LCR電橋HP4191A:
阻抗Z測試材質導納Y,電感L、R和D介電損耗和質量因素
而不是:高頻阻抗價值交付系統
射頻阻抗測量儀器校準系統
驗證系統適用于拍攝(高頻)集總參數阻抗測量儀器(即20 KHZ - 1檢測GHZ頻率的R、L、C組件的電磁性質和物質財產儀器和測量工具,標準件),規定的無線電頻率(習慣也被稱為高頻)量值溯源的方式集中參數對阻抗、傳輸過程和測量儀器校準方法。
首先,計量標準
1、高頻率集總參數阻抗的國家主要計量標準是用于檢索和保存20 KHZ - 1000 GHZ頻率阻抗值(包括復介電常數的介電材質和復數的軟磁性材質磁導率)的測量設備和測量工具。
2、(高頻)集總參數阻抗計量標準,包括:
2.1空氣介質同軸電纜阻抗基準,通過同軸電纜的阻抗值的大小和材質電磁性能理論計算得到的。
它用于校準根據反射系數測量原理設計的高頻阻抗精度測量裝置。
空氣介質同軸微波阻抗是國家基準,這個驗證系統編譯,有利于拍攝(高頻),微波阻抗值的統一。
在(1 - 1000)MHz頻帶、技術指標:
反射是模擬值| f |:1.000 / - 0.002;
相位角:180°/ - 0.5°。
2.2高頻電阻高頻阻抗的精密測量設備,它是利用高頻HP4191A阻抗分析儀的從美國進口,通過實證分析的準確性,確保高頻集總阻抗測量性能計量工作在以下:
頻率(1 - 1000)MHz
反射是模擬值f | |:1.000(0.003 - 0.007)
0.5°相位角度θ:180°±;
阻抗模值Z | |:1ΩΩ- 10 k(0.5 -10)?電容C:nf pf - 100 10(0.2 -10)?電感L:10 nh - 100畝H(0.2 -10)?損失:tg三角洲(D)0.001 - 0.5 / -”(0.002 - 0.05)
**,高頻率集總阻抗標準
3、集總阻抗標準包括:
3.1高頻阻抗標準50Ω,0,0Ω。
他們由國家基準價值應通過直接比較方法,技術特點如下:
50Ω:f | | 0.0025或者更少,
0Ω:殘余阻抗小于Ω;
0年代:邊緣電容值0.080 pF。
這個標準用來校準高頻阻抗分析儀設計是根據電壓和電流的原理比高頻阻抗測量儀器,如高頻LCR表一般(校準也需要使用直流和低頻阻抗標準”)。
和50Ω阻抗的校準模擬損失Q值、tg、三角洲和其他標準設備。
3.2高頻和低頻阻抗分析儀。
這些都是商業產品精度高阻抗測量儀,也用作計量標準設備,精度低的阻抗標準測量工具用于校準。
以下技術指標:
頻率：20kHz-1000MHz；
　　　　阻抗｜Z｜：1Ω-10kΩ±（1-20%）；
　　　　電容C：10pF-100nF±(0.5-20)%；
　　　　電感L：10nH-1.00μH±（0.5-20）%