跟著測量儀器的需求也越來越廣泛，只需觸及精細標準要求都需求通過標準量測設備進行驗證產品的研發加工精度是否合格，在這過程中質量檢測人員經常會遇到二次元測量儀，2.5次元測量儀，等設備的概念，如剛接觸這些概念很難真實的理解差異。下面小編就來給我們講解下二次元形象測量儀與2.5次元測量儀的差異：

　　以線紋尺的刻度或光波波長作為已知長度，運用機械測頭進行接觸測量的光學長度測量東西。測長機具有能在3個坐標內移動和2個坐標內翻滾的可調工作臺，還帶有不同測頭和附件，常用于檢定大標準量塊和測量多種工件的內、外標準。

　　一：測長機原理

　　1.標準器：選用高精度光柵系統作為反應X軸向間隔的標準器；

　　2.測量原理：運用頭座的測力并運用測帽球面（針對平面物體測量-如量塊，校正桿，千分尺，卡規等）接觸被測平面，五軸工作臺的水平方向起浮，使得尾座測帽球面與被測件另一平面接觸；然后測得兩測帽球面頂點間的間隔；

　　運用頭座的測力并運用平面測帽的平面（針對圓周外徑測量，如光面塞規，針規及棒材）接觸被測平面，五軸工作臺的水平方向起浮，使得尾座測帽球面與被測件另一平面接觸；然后測得兩測帽平面間的間隔；

　　運用頭座測力并運用平面測帽接觸三針使三針與螺紋塞規螺紋槽中徑截面點接觸，得到平面測帽間的間隔，并加上三針針徑，運用三針法核算得到螺紋單一中徑；

　　運用T型測球與螺紋環規內螺紋槽中徑截面點分別接觸，得到一組螺紋中截面中徑數據，并通過三針法核算得到螺紋單一中徑；

　　3.數據修改：通過測力修改系統及溫度修改系統將X軸向光柵反應的數據進行修改得到正確的X軸標準長度數值；

　　4.軟件標準及數據核算：軟件系統內置多個標準，并通過對應標準的數據核算得到檢定所需數據（如螺紋的單一中徑，量塊的標準長度，光面規的真值等）。