上海伯東美國 inTEST ATS-535 集成空壓機的高低溫沖擊熱流儀, 高低溫測試范圍 -60 至 + 225°C, 為半導體功率器件 ( MOSFET, IGBT, SIC, GaN,車規(guī)級芯片…), 功率模塊, 功率集成電路, 智能傳感器等芯片研發(fā)提供高低溫測試解決方案.


inTEST ATS-535 高低溫沖擊熱流儀優(yōu)勢
集成空壓機: 特別適用于對環(huán)境噪音有嚴格要求的寫字樓園區(qū)或研發(fā)環(huán)境, 省去重新評估空壓系統(tǒng)及配管的時間及人力成本, 解決了因為環(huán)境受限無法提供壓縮氣體的芯片高低溫測試難題.
移動式設計: 機動性更強
溫度范圍廣: -60 至+ 225°C
整機節(jié)能設計: 整機噪音 < 60 dBA (內(nèi)置空壓機)
兼容市面上各品牌半導體測試機, 滿足帶電時的芯片各類測試.
遠程接口: IEEE.488, RS232; LabViewTM 驅動

inTEST ATS-535 高低溫沖擊熱流儀基本參數(shù)

inTEST ATS-535 應用場景


美國 inTEST ThermoStream 系列高低溫沖擊熱流儀, 溫度沖擊范圍 -100 ℃ 至+ 300 ℃, 防靜電設計, 不需要 LN2 或 LCO2 冷卻, 溫度顯示精度: ±1℃, 通過 NIST 校準. 通過 ISO 9001, CE, RoHS 認證. inTEST 熱流儀提供適用于 RF 射頻, 微波, 電子, 功率器件, 通信芯片等溫度測試, 滿足芯片特性和故障分析的需求. 上海伯東是美國 inTEST 中國總代理.
 

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