inTEST ATS-710E 車載芯片高低溫測試解決方案
上海伯東美國 inTEST ThermoStream 高低溫沖擊熱流儀, 為車載芯片提供穩定和高效的溫度測試解決方案, 保證車規產品的高安全性, 高可靠性和高穩定性, inTEST 高度適配各類測試平臺, 協助企業生產研發符合 AEC-Q100 可靠性認證的車載芯片.
inTEST ATS-710E 車載芯片高低溫測試解決方案
由于車載電子產品基本覆蓋汽車產品的全生命周期, 因此需要符合汽車功能安全標準, 而高低溫沖擊測試是其用于量產車上安全相關零部件的必要條件. 美國 inTEST 熱流儀是一種用于車規級芯片高低溫測試的設備. 它可以快速模擬汽車在使用過程中可能遇到的各種溫度環境, 從而對芯片進行高溫和低溫測試.
上海伯東某客戶是一家汽車動力系統研發商, 致力于為整車廠和動力系統供應商提供發動機及變速系統關鍵部件. 目前正在開發和研究潔凈高效的未來車行技術, 尤其致力于車載電子系統解決方案, 不斷提升電動汽車和混合動力汽車技術. 客戶使用 inTEST ATS-710E 高低溫沖擊測試機, 為相關測試工作提供 -75°C 至 +225°C 快速溫度沖擊范圍, 滿足各類車規產品的高低溫沖擊要求.
ATS-710E-M |
inTEST ATS-710E 提供 Air Mode 和 DUT Mode 兩種測試方式. 在實際測試中, 如果是單顆待測器件, 則將熱電偶探頭放置于器件周邊, 越靠近器件越好, 此時, 設備輸出的氣體溫度將使此熱電偶處的溫度達到設定值.
與傳統高低溫試驗箱對比, 上海伯東 inTEST 熱流儀主要優勢:
1. 變溫速率更快, 每秒可快速升溫/降溫 15 °C
2. 溫控精度: ±1℃
3. 實時監測待測元件真實溫度,可隨時調整沖擊氣流溫度
4. 針對 PCB 電路板上眾多元器件中的某一單個IC (模塊), 可單獨進行高低溫沖擊, 而不影響周邊其它器件
5. 對測試機平臺 load board上 的 IC 進行溫度循環 / 沖擊; 傳統高低溫箱無法針對此類測試
6. 對整塊集成電路板提供準確且快速的環境溫度
上海伯東美國 inTEST ThermoStream 系列高低溫沖擊熱流儀, 移動設計, 通過輸出快速, 清潔干燥的冷熱循環沖擊氣流, 為芯片溫度測試提供快速準確的溫度環境, 適合模擬芯片在各種溫度測試和調節的應用, 廣泛應用于 RF 射頻, 微波, 電子, 功率器件, 通信芯片等的循環試驗 Thermal cycle, 高低溫沖擊測試 thermal shock, 滿足芯片特性和故障分析的需求.
上海伯東是美國 inTEST 中國總代理.
若您需要進一步了解 inTEST 熱流儀詳細信息或討論, 請參考以下聯絡方式:
上海伯東: 羅小姐
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