Ｘ射線測厚儀是一種通過X射線測量物體厚度的儀器，其射線特征主要包括以下幾個方面：

1.   能量：X射線測厚儀所使用的X射線能量通常在30 keV到200 keV之間。這個能量范圍的X射線可以穿透大多數常見的材料，但同時也會受到材料的吸收和散射的影響。

2. 衰減：X射線在物質中傳播時會發生衰減，其衰減程度取決于X射線的能量、材料的密度和原子序數等因素。因此，X射線測厚儀可以通過測量X射線在被測物體中的衰減情況來確定物體的厚度。

3. 散射：X射線在物質中傳播時會發生散射，其中包括康普頓散射和光電效應。這些散射會影響X射線的傳播方向和能量，從而影響測量結果。

4. 輻射劑量：X射線是一種電離輻射，對人體和環境都具有一定的輻射危害。因此，使用X射線測厚儀時需要注意輻射劑量的控制和防護措施。

總的來說，X射線測厚儀的射線特征是多方面的，需要綜合考慮。在使用X射線測厚儀時，需要根據被測物體的材料、厚度和形狀等因素選擇合適的X射線能量和測量參數，以確保測量結果的準確性和安全性。